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1. (WO2017033562) AUTOMATIC ANALYSIS DEVICE, AUTOMATIC ANALYSIS SYSTEM, AND AUTOMATIC ANALYSIS METHOD
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Pub. No.: WO/2017/033562 International Application No.: PCT/JP2016/069171
Publication Date: 02.03.2017 International Filing Date: 28.06.2016
IPC:
G01N 21/82 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21
Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible, or ultra-violet light
75
Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated
77
by observing the effect on a chemical indicator
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producing a precipitate or turbidity
Applicants:
株式会社日立ハイテクノロジーズ HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区西新橋一丁目24番14号 24-14, Nishi Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058717, JP
Inventors:
稲邊 利幸 INABE Toshiyuki; JP
牧野 彰久 MAKINO Akihisa; JP
足立 作一郎 ADACHI Sakuichiro; JP
藪谷 千枝 YABUTANI Chie; JP
Agent:
平木 祐輔 HIRAKI Yusuke; JP
Priority Data:
2015-16687726.08.2015JP
Title (EN) AUTOMATIC ANALYSIS DEVICE, AUTOMATIC ANALYSIS SYSTEM, AND AUTOMATIC ANALYSIS METHOD
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE AUTOMATIQUE, SYSTÈME D'ANALYSE AUTOMATIQUE, ET PROCÉDÉ ASSOCIÉ
(JA) 自動分析装置、自動分析システム及び自動分析方法
Abstract:
(EN) In order to enable increase in a measurement range for an interference substance regardless of before or after mixing of a reagent with a sample, and further to realize measurement of the level of the interference substance and measurement of the sample under the same measurement conditions, this automatic analysis device is provided with (1) a measurement mechanism having a light measuring unit having installed therein a reaction container in which the sample is dispensed, a light source which emits light to the reaction container, and a detecting unit that detects scattered light from the sample in the reaction container, (2) an amplifier circuit unit having an adder-subtractor that adds or subtracts a correction signal to or from a first measurement signal from the detecting unit, and an amplifier circuit which amplifies the output signal by the adder-subtractor at a fixed amplification rate to output a second measurement signal, and (3) an arithmetic operation unit which calculates the correction signal on the basis of a difference between the signal level of the second measurement signal and a target value, and which executes an analysis action on the basis of the second measurement signal after correction by means of the correction signal.
(FR) Pour permettre l'accroissement d'une plage de mesure d'une substance d'interférence, que ce soit avant ou après mélange d'un réactif avec un échantillon, et en outre pour réaliser une mesure du niveau de la substance d'interférence et la mesure de l'échantillon dans les mêmes conditions de mesure, le dispositif d'analyse automatique selon l'invention comprend (1) un mécanisme de mesure comportant une unité de mesure de lumière dans laquelle est installé un récipient de réaction contenant l'échantillon, une source de lumière qui émet une lumière en direction du récipient de réaction, et une unité de détection qui détecte la lumière diffusée par l'échantillon dans le récipient de réaction, (2) une unité de circuit d'amplificateur comportant un additionneur-soustracteur qui additionne ou soustrait un signal de correction à ou d'un premier signal de mesure provenant de l'unité de détection, et un circuit amplificateur qui amplifie le signal de sortie délivré par l'additionneur-soustracteur à un taux d'amplification fixe pour générer un second signal de mesure, et (3) une unité d'opération arithmétique qui calcule le signal de correction sur la base d'une différence entre le niveau de signal du second signal de mesure et une valeur cible, et qui exécute une action d'analyse sur la base du second signal de mesure après correction au moyen du signal de correction.
(JA) 検体への試薬の混和の前後によらず干渉物質の測定範囲を拡大することができ、更に、干渉物質の度合いの測定と検体の測定とを同じ測定条件のまま実現できるようにする。そこで、自動分析装置に、(1)検体が分注された反応容器を架設する測光部と、前記反応容器に対して光を照射する光源と、前記反応容器内の前記検体からの散乱光を検出する検出部とを有する測定機構と、(2)前記検出部からの第1の測定信号に補正信号を加算又は減算する加減算器と、前記加減算器の出力信号を固定の増幅率で増幅して第2の測定信号として出力する増幅回路を有する増幅回路部と、(3)前記第2の測定信号の信号レベルと目標値との差分に基づいて前記補正信号を計算すると共に、前記補正信号による補正後の前記第2の測定信号に基づいて分析動作を実行する演算部とを設ける。
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