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1. (WO2017033037) TERAHERTZ WAVEFRONT MEASUREMENT SYSTEM AND METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/2017/033037 International Application No.: PCT/IB2015/001589
Publication Date: 02.03.2017 International Filing Date: 25.08.2015
IPC:
G01J 1/42 (2006.01) ,G01J 1/04 (2006.01) ,G01J 9/00 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
J
MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
1
Photometry, e.g. photographic exposure meter
42
using electric radiation detectors
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
J
MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
1
Photometry, e.g. photographic exposure meter
02
Details
04
Optical or mechanical part
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
J
MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
9
Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength
Applicants:
UNIVERSITE DE BORDEAUX [FR/FR]; 35, place Pey Berland F-33000 Bordeaux, FR
CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE [FR/FR]; 3, rue Michel Ange F-75016 Paris, FR
Inventors:
ABRAHAM, Emmanuel Pierre Michel; FR
FREYSZ, Eric; FR
DEGERT, Jérôme; FR
YASUI, Takeshi; JP
CAHYADI, Harsono; JP
Agent:
CHAUVIN, Vincent; FR
Priority Data:
Title (EN) TERAHERTZ WAVEFRONT MEASUREMENT SYSTEM AND METHOD
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE MESURE DE FRONT D'ONDE TÉRAHERTZ
Abstract:
(EN) The invention concerns a Terahertz wavefront measurement system comprising a spatial mask (4, 24) selected among a Terahertz lens array (24) or an array of apertures (4, 14). According to the invention, the Terahertz wavefront measurement system comprises an infrared camera (9), a nonlinear electro-optical crystal (5) having a first face and a second face, the first face being placed adjacent to the spatial mask (4, 24) for receiving an array of multispots in the Terahertz frequency range and the second face being placed for receiving an ultrashort pulsed infrared probe beam (20) and for generating a reflected beam (30) in the infrared frequency range having a wavefront spatial distribution depending on the array of multispots in the Terahertz frequency range, the infrared camera (9) being configured for detecting an image of the reflected beam (30) in the infrared frequency range and a processing system for analyzing the image of reflected beam (30).
(FR) L'invention concerne un système de mesure de front d'onde Térahertz comprenant un masque spatial (4, 24) choisi parmi un réseau de lentilles Térahertz (24) ou un réseau d'ouvertures (4, 14). Selon l'invention, le système de mesure de front d'onde Térahertz comprend une caméra infrarouge (9), un cristal électro-optique non linéaire (5) ayant une première face et une seconde face, la première face étant placée de manière adjacente au masque spatial (4, 24) pour recevoir un réseau de points multiples dans la plage de fréquence Térahertz et la seconde face étant placée pour recevoir un faisceau de sonde infrarouge à impulsions ultracourtes (20) et pour générer un faisceau réfléchi (30) dans la gamme de fréquences des infrarouges ayant une distribution spatiale de fronts d'ondes dépendante du réseau de points multiples dans la plage de fréquence Térahertz, la caméra infrarouge (9) étant configurée pour détecter une image du faisceau réfléchi (30) dans la gamme de fréquences des infrarouges et un système de traitement pour analyser l'image du faisceau réfléchi (30).
front page image
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
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European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)