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1. (WO2016185818) SOFT ERROR RATE CALCULATION DEVICE AND CALCULATION METHOD FOR SEMICONDUCTOR LARGE SCALE INTEGRATION (LSI)
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/185818    International Application No.:    PCT/JP2016/061191
Publication Date: 24.11.2016 International Filing Date: 06.04.2016
IPC:
G06F 17/50 (2006.01)
Applicants: HITACHI, LTD. [JP/JP]; 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280 (JP)
Inventors: UEZONO Takumi; (JP).
TOBA Tadanobu; (JP).
SHIMBO Kenichi; (JP).
NAGASAKI Fumihiko; (JP)
Agent: TODA Yuji; (JP)
Priority Data:
2015-103319 21.05.2015 JP
Title (EN) SOFT ERROR RATE CALCULATION DEVICE AND CALCULATION METHOD FOR SEMICONDUCTOR LARGE SCALE INTEGRATION (LSI)
(FR) DISPOSITIF DE CALCUL ET PROCÉDÉ DE CALCUL DE TAUX D'ALÉAS LOGIQUES PERMETTANT UNE INTÉGRATION À GRANDE ÉCHELLE (LSI) DE SEMI-CONDUCTEURS
(JA) 半導体LSI(Large Scale Integration)のソフトエラー率計算装置および計算方法
Abstract: front page image
(EN)The present invention enables derivation of a neutron soft error rate only from data at the time of low neutron energy irradiation. An outline value of an SEU cross section function corresponding to a given neutron energy value is output. From the outline value of the SEU cross section function and low energy neutron spectrum data, an error count basic value of errors that occur per unit time is calculated. From an error count at the time of low energy neutron irradiation and the low energy neutron irradiation time, an error count actual measurement value per unit time is calculated. From the error count basic value per unit time and the error count actual measurement value per unit time, a proportionality coefficient of the SEU cross section function is calculated. A natural neutron spectrum is held, and a neutron flux corresponding to the neutron energy value transmitted from the error rate calculation unit is output. An integration operation is performed for the SEU cross section function, which is determined by an SEU cross section outline and a proportionality constant, and the natural neutron spectrum to calculate the neutron soft error rate of the semiconductor device in the natural world.
(FR)La présente invention permet le calcul d'un taux d'aléas logiques dus aux neutrons uniquement à partir de données obtenues au moment d'une exposition à des neutrons à faible énergie. Une valeur de contour d'une fonction section transversale de perturbation par une particule isolée (SEU) correspondant à une valeur d'énergie neutronique donnée est délivrée. À partir de la valeur de contour de la fonction section transversale de SEU et de données de spectre de neutrons à faible énergie, une valeur de base de nombre d'aléas qui surviennent par unité de temps est calculée. À partir d'un nombre d'aléas au moment d'une exposition à des neutrons à faible énergie et du temps d'exposition aux neutrons à faible énergie, une valeur de mesure réelle de nombre d'aléas par unité de temps est calculée. À partir de la valeur de base de nombre d'aléas par unité de temps et de la valeur de mesure réelle de nombre d'aléas par unité de temps, un coefficient de proportionnalité de la fonction section transversale de SEU est calculé. Un spectre de neutrons naturel est retenu, et un flux de neutrons correspondant à la valeur d'énergie neutronique envoyée par l'unité de calcul de taux d'aléas est délivré. Une opération d'intégration est effectuée pour la fonction section transversale de SEU, qui est déterminée par un contour de section transversale de SEU et une constante de proportionnalité, et le spectre de neutrons naturel afin de calculer le taux d'aléas logiques dus aux neutrons d'un dispositif à semi-conducteur dans le monde naturel.
(JA)低中性子エネルギーを照射した際のデータのみでも中性子ソフトエラー率の導出を可能とする。 与えられた中性子エネルギー値に対応するSEU断面積関数の外形値を出力し、SEU断面積関数の外形値と低エネルギー中性子スペクトルデータから単位時間当たりに発生するエラー数基本値を計算し、低エネルギー中性子照射時のエラー数と低エネルギー中性子照射時間から単位時間当たりのエラー数実測値を計算し、単位時間当たりのエラー数基本値と単位時間当たりのエラー数実測値からSEU断面積関数の比例係数を計算し、自然界中性子スペクトルを保持しエラー率計算部から送られる中性子エネルギー値に応じた中性子フラックスを出力し、SEU断面積外形と比例定数から定まるSEU断面積関数と前記自然界中性子スペクトルとを積分演算を実行し、自然界における前記半導体デバイスの中性子ソフトエラー率を計算する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)