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1. (WO2016185500) METHOD FOR FORECASTING IONOSPHERE TOTAL ELECTRON CONTENT AND/OR SCINTILLATION PARAMETERS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/185500    International Application No.:    PCT/IT2016/000126
Publication Date: 24.11.2016 International Filing Date: 13.05.2016
IPC:
G01S 19/07 (2010.01), G01S 19/41 (2010.01)
Applicants: SPACEARTH TECHNOLOGY S.R.L. [IT/IT]; Vai Di Vigna Murata, 605 00143 Roma (IT)
Inventors: GRZESIAK, MARCIN; (IT).
CESARONI, Claudio; (IT).
SPOGLI, Luca; (IT).
DE FRANCESCHI, Giorgiana; (IT)
Agent: IANNONE, Carlo Luigi; Barzano' & Zanardo Roma S.p.A. Via Piemonte, 26 00187 Roma (IT)
Priority Data:
102015000015809 19.05.2015 IT
Title (EN) METHOD FOR FORECASTING IONOSPHERE TOTAL ELECTRON CONTENT AND/OR SCINTILLATION PARAMETERS
(FR) PROCÉDÉ DE PRÉVISION DE LA TENEUR TOTALE EN ÉLECTRONS DANS L'IONOSPHÈRE ET/OU DE PARAMÈTRES DE SCINTILLATION PROCÉDÉ DE PRÉVISION DE LA TENEUR TOTALE EN ÉLECTRONS DANS L'IONOSPHÈRE ET/OU DE PARAMÈTRES DE SCINTILLATION
Abstract: front page image
(EN)The present invention relates to a method of TEC and scintillation empirical forecasting, in particular short-term forecasting (seconds to minutes). The output of the method is necessary to feed mitigation algorithms aiming at improving accuracy on GNSS precise positioning techniques (RTK, NRTK, and PPP) under ionospheric harsh conditions.
(FR)La présente invention concerne un procédé de prévision empirique de TEC et de scintillation, en particulier de prévision à court terme (de quelques secondes à quelques minutes) La sortie du procédé est nécessaire pour alimenter des algorithmes de réduction visant à améliorer la précision de techniques précises de positionnement par GNSS (RTK, NRTK et PPP) dans des conditions ionosphériques difficiles.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)