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1. (WO2016184578) OPTICAL METHOD AND ARRANGEMENT FOR MEASURING RESIDUAL STRESSES, IN PARTICULAR IN COATED OBJECTS
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Pub. No.: WO/2016/184578 International Application No.: PCT/EP2016/000847
Publication Date: 24.11.2016 International Filing Date: 20.05.2016
IPC:
G01L 5/00 (2006.01)
Applicants: UNIVERSITÄT STUTTGART[DE/DE]; Keplerstr. 7 70174 Stuttgart, DE
Inventors: OSTEN, Wolfgang; DE
PEDRINI, Giancarlo; DE
GADOW, Rainer; DE
KÖRNER, Klaus; DE
Agent: HUBER, Michael; Müller-Boré & Partner Patentanwälte PartG mbB Friedenheimer Brücke 21 80639 München, DE
Priority Data:
10 2015 006 697.821.05.2015DE
Title (EN) OPTICAL METHOD AND ARRANGEMENT FOR MEASURING RESIDUAL STRESSES, IN PARTICULAR IN COATED OBJECTS
(FR) PROCÉDÉ OPTIQUE ET DISPOSITION POUR LA MESURE DE LA CONTRAINTE INTERNE, EN PARTICULIER SUR DES OBJETS REVÊTUS
(DE) OPTISCHES VERFAHREN UND ANORDNUNG ZUR EIGENSPANNUNGSMESSUNG, INSBESONDERE AN BESCHICHTETEN OBJEKTEN
Abstract: front page image
(EN) The present invention relates to a method and an apparatus for establishing residual stresses in objects, in particular in coated objects, and to a method and an apparatus for coating objects. The method comprises: impinging a surface (8) of the object (5) with laser light and generating a hole or a pattern of holes and/or locally heated points in the object (5); establishing the surface deformations by means of an optical deforming measuring method after the object (5) is impinged by laser light; establishing the residual stresses present in the object (5) from the measured surface deformations, wherein the generation of the hole pattern is carried out by means of an optical scanning apparatus which comprises an optical deflection and/or modulation arrangement for controllable deflection and/or modulation of the laser light, and/or a focusing arrangement for controllable focusing of the laser light.
(FR) L'invention concerne un procédé et un dispositif pour la détermination des contraintes internes dans des objets, en particulier dans des objets revêtus, ainsi qu'un procédé et un dispositif pour le revêtement d'objets. Le procédé comprend : la soumission d'une surface (8) de l'objet (5) à une lumière laser et la production d'un trou ou d'un motif de trous et/ou d'endroits échauffés localement dans l'objet (5) ; la détermination des déformations de la surface après la soumission de l'objet (5) à la lumière laser au moyen d'un procédé de mesure optique de la déformation ; la détermination des contraintes internes présentes dans l'objet (5) à partir des déformations de surface déterminées, la production du trou/du motif se faisant à l'aide d'un dispositif de balayage optique, qui comprend un dispositif de déviation et/ou de modulation optique pour la déviation et/ou la modulation commandable de la lumière laser ; et/ou un dispositif de focalisation pour la focalisation commandable de la lumière laser.
(DE) Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Ermitteln von Eigenspannungen in Objekten, insbesondere in beschichteten Objekten, sowie ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Beschichten von Objekten. Das Verfahren umfasst: Beaufschlagen einer Oberfläche (8) des Objekts (5) mit Laserlicht und Erzeugen eines Lochs oder eines Musters von Löchern und/oder lokal erwärmten Stellen im Objekt (5); Ermitteln der Oberflächenverformungen nach dem Beaufschlagen des Objekts (5) mit dem Laserlicht mittels eines optischen Verformungs-Messverfahrens; Ermitteln der im Objekt (5) vorliegenden Eigenspannungen aus den gemessenen Oberflächenverformungen, wobei das Erzeugen des Lochs Musters mittels einer optischen Abtastvorrichtung erfolgt, welche eine optische Ablenk- und/oder Modulationsanordnung zur steuerbaren Ablenkung und/oder Modulation des Laserlichts; und/oder eine Fokussieranordnung zur steuerbaren Fokussierung des Laserlichts umfasst.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)