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1. (WO2016184305) SYSTEM AND METHOD FOR SYNTHETIC TRACE MODEL
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/184305    International Application No.:    PCT/CN2016/080980
Publication Date: 24.11.2016 International Filing Date: 04.05.2016
IPC:
G06F 11/26 (2006.01)
Applicants: HUAWEI TECHNOLOGIES CO., LTD. [CN/CN]; Huawei Administration Building, Bantian Longgang District Shenzhen, Guangdong 518129 (CN)
Inventors: HARN, Ywhpyng; (US).
YIN, Fa; (CN).
CHEN, Xiaotao; (US)
Priority Data:
62/162,523 15.05.2015 US
15/140,246 27.04.2016 US
Title (EN) SYSTEM AND METHOD FOR SYNTHETIC TRACE MODEL
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ ASSOCIÉS À UN MODÈLE DE TRACE SYNTHÉTIQUE
Abstract: front page image
(EN)A system and method for a synthetic trace model includes providing a first system model, the first system model comprising a plurality of subsystem models, each of the plurality of subsystem models having a trace format, generating a first plurality of traces from an overall pool of trace instructions, each of the first plurality of traces generated for respective ones of the plurality of subsystem models, according to the trace format of the subsystem model, executing the traces on each of the subsystem models, and evaluating execution characteristics for each trace executed on the first system model.
(FR)L'invention concerne un système et un procédé associés à un modèle de trace synthétique faisant appel à la fourniture d'un premier modèle de système, le premier modèle de système comprenant une pluralité de modèles de sous-système, chaque modèle de la pluralité de modèles de sous-système ayant un format de trace, à la génération d'une première pluralité de traces à partir d'un paquet global d'instructions de traces, chaque trace de la première pluralité de traces étant générée pour des modèles respectifs de la pluralité de modèles de sous-système, conformément au format de trace du modèle de sous-système, l'exécution des traces sur chacun des modèles de sous-système, et à l'évaluation de caractéristiques d'exécution pour chaque trace exécutée sur le premier modèle de système.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)