WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2016182734) DETERMINING FAILURE OF AN ULTRAVIOLET SENSOR
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/182734    International Application No.:    PCT/US2016/029437
Publication Date: 17.11.2016 International Filing Date: 27.04.2016
IPC:
G01J 1/18 (2006.01)
Applicants: HONEYWELL INTERNATIONAL INC. [US/US]; Intellectual Property-Patent Services 115 Tabor Road, M/S 4D3 P. O. Box 377 Morris Plains, New Jersey 07950 (US)
Inventors: ZABEL, Brian; (US).
CARTY, Chad; (US)
Agent: SZUCH, Colleen D.; (US)
Priority Data:
14/711,347 13.05.2015 US
Title (EN) DETERMINING FAILURE OF AN ULTRAVIOLET SENSOR
(FR) DÉTERMINATION DE DÉFAILLANCE D'UN CAPTEUR D'ULTRAVIOLET
Abstract: front page image
(EN)Methods, devices, and systems for determining failure of an ultraviolet (UV) sensor are described herein. One device includes a memory, and a processor configured to execute executable instructions stored in the memory to reduce an excitation voltage of a UV sensor until no conduction occurs in the UV sensor, increase, upon no conduction occurring in the UV sensor, the excitation voltage of the UV sensor until a conduction event occurs, compare the excitation voltage at which the conduction event occurs to a reference voltage, and determine whether the UV sensor has failed based on the comparison.
(FR)La présente invention concerne des procédés, des dispositifs et des systèmes pour déterminer une défaillance d'un capteur d'ultraviolet (UV). Un dispositif comprend une mémoire et un processeur conçu pour exécuter des instructions exécutables stockées dans la mémoire pour réduire une tension d'excitation d'un capteur UV jusqu'à ce qu'aucune conduction ne se produise dans le capteur UV, augmenter, lors de la conduction qui se produit dans le capteur UV, la tension d'excitation du capteur UV jusqu'à ce qu'un événement de conduction se produise, comparer la tension d'excitation à laquelle l'événement de conduction se produit à une tension de référence, et déterminer si le capteur UV a échoué en fonction de la comparaison.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)