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1. (WO2016181908) SAMPLE PLATE FOR MASS SPECTROMETRIC ANALYSIS, METHOD FOR MASS SPECTROMETRIC ANALYSIS, AND DEVICE FOR MASS SPECTROMETRIC ANALYSIS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/181908    International Application No.:    PCT/JP2016/063676
Publication Date: 17.11.2016 International Filing Date: 06.05.2016
IPC:
G01N 27/62 (2006.01), G01N 27/64 (2006.01), H01J 49/04 (2006.01)
Applicants: ASAHI GLASS COMPANY, LIMITED [JP/JP]; 5-1, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008405 (JP)
Inventors: TACHIBANA, Yuko; (JP).
NAKAJIMA, Yoji; (JP)
Agent: SENMYO, Kenji; (JP)
Priority Data:
2015-095363 08.05.2015 JP
Title (EN) SAMPLE PLATE FOR MASS SPECTROMETRIC ANALYSIS, METHOD FOR MASS SPECTROMETRIC ANALYSIS, AND DEVICE FOR MASS SPECTROMETRIC ANALYSIS
(FR) PLAQUE D'ÉCHANTILLON POUR UNE ANALYSE PAR SPECTROMÉTRIE DE MASSE, PROCÉDÉ POUR UNE ANALYSE PAR SPECTROMÉTRIE DE MASSE ET DISPOSITIF POUR UNE ANALYSE PAR SPECTROMÉTRIE DE MASSE
(JA) 質量分析用試料プレート、質量分析方法および質量分析装置
Abstract: front page image
(EN)Provided are: a sample plate for mass spectrometric analyses which does not necessitate the use of a matrix in combination therewith, is less apt to decrease in ionization-assisting effect with the lapse of time, is reduced in in-plane unevenness in ionization-assisting effect, has a satisfactory efficiency in the formation of cation-bearing sample molecules even when no cationizing agent is used, and is easy to produce; and a method and a device for mass spectrometric analyses both using the sample plate. The sample plate is characterized by comprising a base 12 and a thin metal film 14 formed on the base 12, the thin metal film comprising Ag, Al, or Cu as the main component and further containing one or more specific additive elements MAg, MAl, or MCu depending on the element of the main component. The sample plate is further characterized in that: the ratio of the total number of atoms of the additive elements MAg to the number of Ag atoms, MAg/Ag, is 0.001-0.5; the ratio of the total number of atoms of the additive elements M to the number of Al atoms, MAl/Al, is 0.001-0.5; or the ratio of the total number of atoms of the additive elements MCu to the number of Cu atoms, MCu/Cu, is 0.001-0.5.
(FR)La présente invention concerne : une plaque d'échantillon pour des analyses de spectrométrie de masse qui ne nécessite pas l'utilisation d'une matrice en combinaison avec cette dernière, est moins susceptible de perdre de son effet facilitant l'ionisation au fil du temps, présente une irrégularité réduite dans le plan lors d'un effet facilitant l'ionisation, présente une efficacité satisfaisante lors de la formation de molécules d'échantillon porteuses de cations, même lorsqu'aucun agent de cationisation n'est utilisé, et est facile à produire ; ainsi qu'un procédé et un dispositif pour des analyses par spectrométrie de masse utilisant l'un et l'autre la plaque d'échantillon. La plaque d'échantillon est caractérisée par le fait qu'elle comprend une base (12) et un mince film métallique (14) formé sur la base (12), le mince film métallique comprenant de l'argent (Ag), de l'aluminium (Al) ou du cuivre (Cu) en tant que composant principal et contenant en outre un ou plusieurs éléments additifs spécifiques, MAg, MAl, or MCu en fonction de l'élément du composant principal. La plaque d'échantillon est en outre caractérisée en ce que : le rapport entre le nombre total d'atomes des éléments additifs MAg et le nombre d'atomes d'argent (Ag), MAg/Ag, varie entre 0,001 et 0,5 ; le rapport entre le nombre total d'atomes des éléments additifs M et le nombre d'atomes d'aluminium (Al), MAl/Al, varie entre 0,001 et 0,5 ; ou le rapport entre le nombre total d'atomes des éléments additifs MCu et le nombre d'atomes de cuivre (Cu), MCu/Cu, varie entre 0,001 et 0,5.
(JA)マトリックスを併用する必要がなく、イオン化支援効果が経時的に低下しにくく、イオン化支援効果の面内でのばらつきが小さく、カチオン化剤を併用しなくてもカチオン付加試料分子の生成効率がよく、かつ製造が容易な質量分析用試料プレート、これを用いた質量分析方法および質量分析装置の提供。 基材12と、基材12上に形成された金属薄膜14とを有し、前記金属薄膜は、Ag、AlまたはCuを主成分とし、主成分の元素に応じた特定の添加元素MAg、MAlまたはMCuをさらに含み、Agの原子数に対する前記添加元素MAgの原子数の合計の割合(MAg/Ag)が0.001~0.5、Alの原子数に対する前記添加元素Mの原子数の合計の割合(MAl/Al)が0.001~0.5、またはCuの原子数に対する前記添加元素MCuの原子数の合計の割合(MCu/Cu)が0.001~0.5であることを特徴とする。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)