WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2016181391) IMAGE SENSOR AND METHOD OF FABRICATING THE SAME
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/181391    International Application No.:    PCT/IL2016/050495
Publication Date: 17.11.2016 International Filing Date: 10.05.2016
IPC:
H01L 27/146 (2006.01), H01L 21/20 (2006.01), H01L 31/101 (2006.01)
Applicants: TECHNION RESEARCH & DEVELOPMENT FOUNDATION LIMITED [IL/IL]; Senate House Technion City 3200004 Haifa (IL)
Inventors: ORENSTEIN, Meir; (IL).
BAHIR, Gad; (IL)
Priority Data:
238760 11.05.2015 IL
Title (EN) IMAGE SENSOR AND METHOD OF FABRICATING THE SAME
(FR) CAPTEUR D'IMAGE ET SON PROCÉDÉ DE FABRICATION
Abstract: front page image
(EN)An image sensor is disclosed. The image sensor comprises an array of active pixel cells on a substrate. Each active pixel cell of the present embodiments has: a light detector, monolithically integrated with the substrate; and a signal processing circuit, monolithically integrated with the substrate in a region at least partially surrounding the light detector, and being in electronic communication with the light detector. The light detector and the signal processing circuit are optionally formed of different material systems. A lattice mismatch between the light detector and the substrate is optionally at least 10%.
(FR)La présente invention concerne un capteur d'image. Le capteur d'image comprend un réseau de cellules de pixel actif sur un substrat. Chaque cellule de pixel actif selon les présents modes de réalisation comporte : un détecteur de lumière, intégré de façon monolithique avec le substrat ; et un circuit de traitement de signal, intégré de manière monolithique avec le substrat dans une région entourant au moins partiellement le détecteur de lumière, et en communication électronique avec le détecteur de lumière. Le détecteur de lumière et le circuit de traitement de signal sont éventuellement constitués de systèmes matériels différents. Une inégalité des paramètres de maille entre le détecteur de lumière et le substrat est éventuellement d'au moins 10 %.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)