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1. (WO2016180786) MAGNETIC RESONANCE EXAMINATION SYSTEM WITH FIELD PROBES
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/180786    International Application No.:    PCT/EP2016/060348
Publication Date: 17.11.2016 International Filing Date: 09.05.2016
IPC:
G01R 33/389 (2006.01), G01R 33/565 (2006.01)
Applicants: KONINKLIJKE PHILIPS N.V. [NL/NL]; High Tech Campus 5 5656 AE Eindhoven (NL)
Inventors: GROSS, Patrick; (NL).
FUDERER, Miha; (NL)
Agent: COHEN, Julius, Simon; (NL)
Priority Data:
15167251.6 12.05.2015 EP
Title (EN) MAGNETIC RESONANCE EXAMINATION SYSTEM WITH FIELD PROBES
(FR) SYSTÈME D'EXAMEN PAR RÉSONANCE MAGNÉTIQUE EN UTILISANT DES SONDES DE CHAMP
Abstract: front page image
(EN)A magnetic resonance examination system is disclosed comprising a field probe system to measure the magnetic field distribution of the main magnetic field and gradient magnetic field. The measurements are made in an earlier configuration and yield the resultant magnetic field due to gradient switching or external causes. From the measured resultant magnetic field the response relation is derived and stored in the memory. The response relation from the memory is available for compensating activation of the gradient fields or correction in reconstruction for the response relation in reconstruction. This compensation or correction can be carried-out in a current configuration. Thus is the current configuration to field probes are needed.
(FR)La présente invention concerne un système d'examen par résonance magnétique qui comprend un système de sondes de champ pour mesurer la distribution de champ magnétique du champ magnétique principal et d'un champ magnétique de gradient. Les mesures sont effectuées dans une configuration antérieure et produisent le champ magnétique résultant dû à une commutation de gradient ou des causes externes. À partir du champ magnétique résultant mesuré, la relation de réponse est dérivée et stockée dans la mémoire. La relation de réponse à partir de la mémoire est disponible pour compenser l'activation des champs de gradient ou la correction de reconstruction pour la relation de réponse en reconstruction. Cette compensation ou correction peut être effectuée dans une configuration actuelle. Ainsi, la configuration actuelle par rapport à des sondes de champ est telle que nécessaire.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)