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1. (WO2016179318) SPECTROMETER WITH RANDOM BEAM PROFILES
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/179318    International Application No.:    PCT/US2016/030833
Publication Date: 10.11.2016 International Filing Date: 04.05.2016
IPC:
G01N 21/03 (2006.01), G01J 3/42 (2006.01), G01N 21/39 (2006.01), G01N 21/3504 (2014.01)
Applicants: SPECTRASENSORS, INC. [US/US]; 11027 Arrow Route Rancho Cucamonga, CA 91730 (US)
Inventors: FEITISCH, Alfred; (US).
DORN, Peter; (US).
TEDESCO, James; (US).
LIU, Xiang; (US)
Agent: VAN LOY, Michael, D.; (US)
Priority Data:
14/703,616 04.05.2015 US
Title (EN) SPECTROMETER WITH RANDOM BEAM PROFILES
(FR) SPECTROMÈTRE À PROFILS DE FAISCEAU ALÉATOIRE
Abstract: front page image
(EN)A spectrometer includes a light source configured to emit a beam along a beam path through a sample volume comprising an analyte. Also included is at least one detector positioned to detect at least a portion of the beam emitted by the light source, and at least one reflector positioned along the beam path intermediate the light source and the at least one detector having a surface roughness greater than a predefined level such as 20 Å RMS.
(FR)L'invention concerne un spectromètre qui comprend une source de lumière configurée afin d'émettre un faisceau le long d'un trajet de faisceau à travers un volume d'échantillon comprenant un analyte. L'invention concerne également au moins un détecteur positionné afin de détecter au moins une partie du faisceau émis par la source de lumière, et au moins un réflecteur positionné le long du trajet de faisceau entre la source de lumière et ledit détecteur ayant une rugosité de surface supérieure à un niveau prédéfini tel que 20 Å en moyenne quadratique (RMS).
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)