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1. (WO2016179118) PHOTONIC DEGRADATION MONITORING FOR SEMICONDUCTOR DEVICES
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/179118    International Application No.:    PCT/US2016/030476
Publication Date: 10.11.2016 International Filing Date: 02.05.2016
IPC:
G01N 3/56 (2006.01), G01N 21/88 (2006.01)
Applicants: SUNPOWER CORPORATION [US/US]; 77 Rio Robles San Jose, California 95134 (US)
Inventors: TU, Xiuwen; (US).
SOLTZ, David Aitan; (US).
JOHNSON, Michael C.; (US).
RIM, Seung Bum; (US).
QIU, Taiqing; (US).
SHEN, Yu-Chen; (US).
TRACY, Kieran Mark; (US)
Agent: VINCENT, Lester J.; (US)
Priority Data:
14/705,268 06.05.2015 US
Title (EN) PHOTONIC DEGRADATION MONITORING FOR SEMICONDUCTOR DEVICES
(FR) SURVEILLANCE DE LA DÉGRADATION PHOTONIQUE POUR DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEUR
Abstract: front page image
(EN)Methods of testing a semiconductor, and semiconductor testing apparatus, are described. In an example, a method for testing a semiconductor can include applying light on the semiconductor to induce photonic degradation. The method can also include receiving a photoluminescence measurement induced from the applied light from the semiconductor and monitoring the photonic degradation of the semiconductor from the photoluminescence measurement.
(FR)L'invention concerne des procédés de test d'un semi-conducteur, ainsi qu'un appareil de test de semi-conducteur. Dans un exemple, un procédé de test d'un semi-conducteur peut consister à appliquer de la lumière sur le semi-conducteur afin d'induire une dégradation photonique. Le procédé peut également consister à recevoir en provenance du semi-conducteur une mesure de photo-luminescence induite par la lumière appliquée, et à surveiller la dégradation photonique du semi-conducteur à partir de la mesure de photo-luminescence.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)