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1. (WO2016178569) METHOD FOR SETTING MEASURING APPARATUS, COMPUTER PROGRAM AND MEASURING APPARATUS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/178569    International Application No.:    PCT/NL2016/050315
Publication Date: 10.11.2016 International Filing Date: 02.05.2016
IPC:
G01N 33/00 (2006.01), A61B 5/00 (2006.01), G01N 33/483 (2006.01), G01N 35/00 (2006.01)
Applicants: UMC UTRECHT HOLDING B.V. [NL/NL]; Yalelaan 40 3584 CM Utrecht (NL)
Inventors: VAN ROSSUM, Huub Harmen; (NL)
Agent: LAND, Addick Adrianus Gosling; (NL)
Priority Data:
2014749 01.05.2015 NL
Title (EN) METHOD FOR SETTING MEASURING APPARATUS, COMPUTER PROGRAM AND MEASURING APPARATUS
(FR) PROCÉDÉ DE PARAMÉTRAGE D'UN APPAREIL DE MESURE, PROGRAMME INFORMATIQUE ET APPAREIL DE MESURE
Abstract: front page image
(EN)Method for setting measuring equipment, wherein by means of introducing one or more simulated errors in a substantially error-free series of real measurement values a determination is made as to how quickly the measuring equipment detects the simulated errors, comprising of applying a series analysis method to the error-free series and setting limit values on the basis of values generated by the series analysis method.,
(FR)Dans un procédé de paramétrage d'un équipement de mesure d'après la présente invention, l'introduction d'une ou plusieurs erreurs simulées dans une série de valeurs de mesures réelles sensiblement sans erreur permet de déterminer à quelle vitesse l'équipement de mesure détecte les erreurs simulées. Ledit procédé de paramétrage comprend les étapes consistant à appliquer un procédé d'analyse de série à la série sensiblement sans erreur et à paramétrer les valeurs limites sur la base des valeurs générées par le procédé d'analyse de série.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: Dutch; Flemish (NL)