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1. (WO2016177850) TESTING HEAD HAVING VERTICAL PROBES, IN PARTICULAR FOR REDUCED PITCH APPLICATIONS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/177850    International Application No.:    PCT/EP2016/060123
Publication Date: 10.11.2016 International Filing Date: 05.05.2016
Chapter 2 Demand Filed:    06.12.2016    
IPC:
G01R 1/073 (2006.01)
Applicants: TECHNOPROBE S.P.A. [IT/IT]; Via Cavalieri di Vittorio Veneto, 2 23870 Cernusco Lombardone (Lecco) (IT)
Inventors: PEREGO, Daniele; (IT).
TODARO, Simone; (IT)
Agent: FERRARI, Barbara; (IT)
Priority Data:
102015000014187 07.05.2015 IT
Title (EN) TESTING HEAD HAVING VERTICAL PROBES, IN PARTICULAR FOR REDUCED PITCH APPLICATIONS
(FR) TÊTE DE MISE À L'ESSAI COMPORTANT DES SONDES VERTICALES, EN PARTICULIER POUR DES APPLICATIONS À PAS RÉDUIT
Abstract: front page image
(EN)A testing head (20) having vertical probes for testing the working of a device under test (24) is described, such a testing head comprising a plurality of contact probes (21), each contact probe (21) having a rod-like body of a predetermined length that extends between a first end and a second end (21A, 21B) and being housed in respective guide holes (22A, 23A) made in at least one plate-like lower guide (22) and one plate-like upper guide (23) that are parallel to each other and spaced apart by a bending zone (29). Suitably, at least one of the lower guide (22) and upper guide (23) is equipped with at least one recessed portion (27) formed at a plurality of those guide holes (22A, 23A) and realizing lowered portions (26A, 26B) thereof adapted to reduce a thickness of the plurality of those guide holes (22A, 23A).
(FR)L'invention concerne une tête de mise à l'essai (20) comportant des sondes verticales permettant de mettre à l'essai le fonctionnement d'un dispositif mis à l'essai (24), laquelle comprend une pluralité de sondes de contact (21), chaque sonde de contact (21) ayant un corps de type tige d'une longueur préétablie qui s'étend entre une première extrémité et une seconde extrémité (21A, 21B) et étant logée dans des trous de guidage (22A, 23A) respectifs réalisés dans au moins un guide inférieur de type plaque (22) et un guide supérieur de type plaque (23) qui sont parallèles l'un à l'autre et espacés l'un de l'autre par une zone de cintrage (29). De façon appropriée, le guide inférieur (22) et/ou le guide supérieur (23) sont équipés d'au moins une partie en retrait (27) formée au niveau d'une pluralité desdits trous de guidage (22A, 23A) et réalisant des parties abaissées (26A, 26B) de ceux-ci conçues pour réduire une épaisseur de la pluralité desdits trous de guidage (22A, 23A).
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)