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1. (WO2016177641) SCREENING OF NANOPARTICLE PROPERTIES
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/177641    International Application No.:    PCT/EP2016/059633
Publication Date: 10.11.2016 International Filing Date: 29.04.2016
IPC:
G01N 15/00 (2006.01)
Applicants: THE EUROPEAN UNION, represented by THE EUROPEAN COMMISSION [BE/BE]; Rue de la Loi 200 1049 Brussels (BE)
Inventors: VALSESIA, Andrea; (IT).
DESMET, Cloé; (FR).
COLPO, Pascal; (IT).
ROSSI, François; (NL)
Agent: GEVERS PATENTS; (BE)
Priority Data:
15166302.8 04.05.2015 EP
Title (EN) SCREENING OF NANOPARTICLE PROPERTIES
(FR) CRIBLAGE DES PROPRIÉTÉS DE NANOPARTICULES
Abstract: front page image
(EN)A nanoparticle screening chip and a method using said chip allowing for determining physical properties of nanoparticles, wherein the screening chip comprises a substrate having a working surface divided into a plurality of areas, wherein (1) each of these areas presents different surface properties defined by surface energy component (d,b,a), the total free energy γTOT of the surface of each area being defined as follows: γTOT= γLW+ 2(γ+γ-)0.5, wherein the components are: γLW=dispersive component = d, γ+= electron acceptor component = b, γ-= electron donor component = a; and (2) each of these areas comprises a plurality of subareas, each subarea comprising an array of sub-micrometric holes or elongated grooves with a different aperture size (S1, S2, S3,...).
(FR)L'invention porte sur une puce de criblage de nanoparticules et sur un procédé utilisant ladite puce permettant de déterminer des propriétés physiques de nanoparticules, la puce de criblage comprenant un substrat comportant une surface de travail divisée en une pluralité de zones, (1) ces zones présentant chacune des propriétés de surface différentes définies par une composante d'énergie de surface (d, b, a), l'énergie libre totale (γTOT) de la surface de chaque zone étant définie comme suit : γTOT = γLW + 2(γ + γ - )0,5, les composantes étant : γLW = composante de dispersion = d, γ+ = composante accepteur d'électrons = b, γ- = composante donneur d'électrons = a; et (2) ces zones comprenant chacune une pluralité de sous-zones, chaque sous-zone comprenant un réseau de trous sous-micrométriques ou de rainures allongées ayant une taille d'ouverture différente (S1, S2, S3...).
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)