WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2016177370) MEASURING SYSTEM WITH TEMPERATURE COMPENSATION, AND DEVICE COMPRISING SUCH A MEASURING SYSTEM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/177370    International Application No.:    PCT/DE2016/200204
Publication Date: 10.11.2016 International Filing Date: 03.05.2016
IPC:
G01B 1/00 (2006.01), G01B 5/00 (2006.01), G01B 11/02 (2006.01), G01B 11/06 (2006.01), G01B 11/245 (2006.01)
Applicants: MICRO-EPSILON MESSTECHNIK GMBH & CO. KG [DE/DE]; Königbacher Straße 15 94496 Ortenburg (DE)
Inventors: KIRSCHNER, Gerhard; (DE).
FUELLMEIER, Herbert; (DE)
Agent: ULLRICH & NAUMANN; Schneidmühlstraße 21 69115 Heidelberg (DE)
Priority Data:
10 2015 208 324.1 05.05.2015 DE
Title (DE) MESSSYSTEM MIT TEMPERATURKOMPENSATION UND VORRICHTUNG MIT EINEM SOLCHEN MESSSYSTEM
(EN) MEASURING SYSTEM WITH TEMPERATURE COMPENSATION, AND DEVICE COMPRISING SUCH A MEASURING SYSTEM
(FR) SYSTÈME DE MESURE À COMPENSATION THERMIQUE ET DISPOSITIF MUNI DUDIT SYSTÈME DE MESURE
Abstract: front page image
(DE)Ein Messsystem mit mindestens einem kontaktlos arbeitenden Sensor, der entlang einer Führung, insbesondere eines Rahmenschenkels, einer Schiene, einer Traverse oder dgl., relativ zu einem zu vermessenden Objekt verfahrbar ist, ist dadurch gekennzeichnet, dass zur Kompensation thermischer Ausdehnungen des Messsystems, insbesondere der Führung, eine Referenzmarken enthaltende Lehre, beispielsweise ein Lineal, mit möglichst geringer thermischer Ausdehnung parallel zu der Führung angeordnet ist, wobei die Referenzmarken als geometrische, optische, elektrische und/oder magnetische Marken ausgeführt sind, die entsprechend ihrer Beschaffenheit detektierbar sind, wobei die Positionen der Referenzmarken über den mindestens einen Sensor des Messsystems oder über einen weiteren Sensor während einer Kalibrierfahrt ermittelbar sind.
(EN)The invention relates to a measuring system with at least one sensor which operates in a contactless manner and which can be moved along a guide, in particular a frame limb, a rail, a crossmember, or the like, relative to an object to be measured. The invention is characterized in that in order to compensate for the thermal expansion of the measuring system, in particular of the guide, a gauge containing reference marks, for example a ruler, with as little thermal expansion as possible is arranged parallel to the guide. The reference marks are designed as geometric, optical, electric, and/or magnetic marks which can be detected according to their nature. The positions of the reference marks can be ascertained via the at least one sensor of the measuring system or via another sensor during a calibration process.
(FR)L'invention concerne un système de mesure muni d'au moins un capteur fonctionnant sans contact qui peut se déplacer par rapport à un objet à mesurer le long d'un guide, en particulier d'un montant de cadre, d'un rail, d'une traverse ou similaire. Selon l'invention, pour la compensation des dilatations thermiques du système de mesure, en particulier du guide, un gabarit portant des marques de référence, par exemple une règle, présentant la dilatation thermique la plus faible possible, est agencé parallèlement au guide. Les marques de référence sont réalisées sous la forme de marques géométriques, optiques, électriques et/ou magnétiques qui peuvent être détectées selon leur nature, et les positions des marques de référence peuvent être déterminées pendant un parcours d'étalonnage par l'intermédiaire du ou des capteurs du système de mesure ou par l'intermédiaire d'un autre capteur.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)