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1. (WO2016176940) LEVELNESS DETECTION DEVICE AND METHOD, AND LEVELNESS ADJUSTMENT DEVICE AND METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/176940    International Application No.:    PCT/CN2015/089300
Publication Date: 10.11.2016 International Filing Date: 10.09.2015
IPC:
G01C 15/00 (2006.01)
Applicants: BOE TECHNOLOGY GROUP CO., LTD. [CN/CN]; No.10 Jiuxianqiao Road, Chaoyang District Beijing 100015 (CN).
HEFEI XINSHENG OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY CO., LTD. [CN/CN]; Xinzhan Industrial Park Hefei, Anhui 230012 (CN)
Inventors: ZHOU, Xiang; (CN).
GUO, Dong; (CN).
LIAO, Zhixia; (CN).
HAN, Dong; (CN)
Agent: CHINA PATENT AGENT (H.K.) LTD.; 22/F, Great Eagle Centre 23 Harbour Road, Wanchai Hong Kong (CN)
Priority Data:
201510222073.X 04.05.2015 CN
Title (EN) LEVELNESS DETECTION DEVICE AND METHOD, AND LEVELNESS ADJUSTMENT DEVICE AND METHOD
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE NIVEAU, ET DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE RÉGLAGE DE NIVEAU
(ZH) 水平度检测装置及方法、水平度调节装置及方法
Abstract: front page image
(EN)A levelness detection device (03) and method, and levelness adjustment device (04) and method. The levelness detection device (03) comprises a light emitter (031), a transflective mirror (032) and a plurality of reflecting mirrors (0333) comprising a first reflecting mirror (0331), a second reflecting mirror (0332) and a third reflecting mirror. The transflective mirror (032) and the plurality of reflecting mirrors (0331, 0332, 0333) are arranged on a plane to be detected, and each is provided with a height-indicating scale. Light rays emitted by the light emitter (031) pass through the transflective mirror (032) and then are divided into two outgoing beams (A, B). One outgoing beam (A) reaches the first reflecting mirror (0331), and the other outgoing beam (B) reaches the second reflecting mirror (0332). The second reflecting mirror (0332) further reflects the other outgoing beam (B) onto the third reflecting mirror (0333). Shown values of the light rays on the scales of the transflective mirror (032) and the plurality of reflecting mirrors (0331, 0332, 0333) are compared to perform detection on the levelness of the plane to be detected, thus addressing the problem in the prior art of ready occurrence of an manual measurement error due to a complex operation process.
(FR)L'invention concerne un dispositif (03) et un procédé de détection de niveau, ainsi qu'un dispositif (04) et un procédé de réglage de niveau. Le dispositif (03) de détection de niveau comporte un émetteur (031) de lumière, un miroir transflectif (032) et une pluralité de miroirs réfléchissants (0333) comportant un premier miroir réfléchissant (0331), un deuxième miroir réfléchissant (0332) et un troisième miroir réfléchissant. Le miroir transflectif (032) et la pluralité de miroirs réfléchissants (0331, 0332, 0333) sont disposés sur un plan à détecter, et chacun d'eux est muni d'une graduation indiquant la hauteur. Des rayons lumineux émis par l'émetteur (031) de lumière traversent le miroir transflectif (032), puis sont divisés en deux faisceaux sortants (A, B). Un faisceau sortant (A) atteint le premier miroir réfléchissant (0331), et l'autre faisceau sortant (B) atteint le deuxième miroir réfléchissant (0332). Le deuxième miroir réfléchissant (0332) réfléchit encore l'autre faisceau sortant (B) jusque sur le troisième miroir réfléchissant (0333). Les valeurs indiquées des rayons lumineux sur les graduations du miroir transflectif (032) et de la pluralité de miroirs réfléchissants (0331, 0332, 0333) sont comparées pour effectuer une détection sur le niveau du plan à détecter, palliant ainsi le problème, rencontré dans l'état antérieur de la technique, où une erreur de mesure manuelle peut aisément survenir en raison d'un processus d'utilisation complexe.
(ZH)一种水平度检测装置(03)及方法、水平度调节装置(04)及方法。所述水平度检测装置(03)包括光发射器(031)、半反射半透射镜(032)和包括第一反射镜(0331)、第二反射镜(0332)和第三反射镜的多个反射镜(0333)。所述半反射半透射镜(032)和所述多个反射镜(0331,0332,0333)被布置在待检测平面上并且每一个都设置有指示高度的刻度。所述光发射器(031)发出的光线经过所述半反射半透射镜(032)后分为两束出射光线(A,B),一束出射光线(A)到达所述第一反射镜(0331),另一束出射光线(B)到达所述第二反射镜(0332),所述第二反射镜(0332)进而将所述另一束出射光线(B)反射到所述第三反射镜(0333),通过比较所述光线在所述半反射半透射镜(032)与所述多个反射镜上(0331,0332,0333)的刻度示数来检测所述待检测平面的水平度。解决了现有技术的问题,例如操作过程复杂,容易发生人工测量误差。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Chinese (ZH)
Filing Language: Chinese (ZH)