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1. (WO2016174996) MEASUREMENT DEVICE AND MEASUREMENT METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/174996    International Application No.:    PCT/JP2016/060972
Publication Date: 03.11.2016 International Filing Date: 01.04.2016
IPC:
A61B 5/055 (2006.01), G01N 24/10 (2006.01), G01N 24/12 (2006.01)
Applicants: KYUSHU UNIVERSITY, NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION [JP/JP]; 6-10-1, Hakozaki, Higashi-ku, Fukuoka-shi, Fukuoka 8128581 (JP).
FUJI ELECTRIC CO., LTD. [JP/JP]; 1-1, Tanabeshinden, Kawasaki-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa 2109530 (JP).
MEIKO CO.,LTD. [JP/JP]; 732 Shimoimai, Kai-shi, Yamanashi 4000105 (JP)
Inventors: UTSUMI Hideo; (JP).
KAJIWARA Hidenori; (JP).
OHKUBO Yuji; (JP)
Agent: RYUKA IP LAW FIRM; 22F, Shinjuku L Tower, 1-6-1, Nishi-Shinjuku, Shinjuku-ku, Tokyo 1631522 (JP)
Priority Data:
2015-091572 28.04.2015 JP
Title (EN) MEASUREMENT DEVICE AND MEASUREMENT METHOD
(FR) DISPOSITIF DE MESURE ET PROCÉDÉ DE MESURE
(JA) 計測装置および計測方法
Abstract: front page image
(EN)The amount of time that a subject is under the static magnetic field of a rotating-type MRI device is dependent on the rotational-direction width of a magnet. Conventional rotating-type MRI devices require that the width of the magnet be altered in order to alter the amount of time that the subject is under the static magnetic field. Provided is a measurement device that is provided with: a first magnet that is provided in a first range that is on a circle that is centered on a rotating shaft; a second magnet that is provided in a second range that is on a circle that is centered on the rotating shaft, the second range being different from the first range; a drive unit that rotates the first magnet and the second magnet around the rotating shaft; a measurement unit that is for measuring a measurement target that is in an installation position to which is applied a first magnetic field that is generated by the first magnet as a result of the rotation of the rotating shaft and a second magnetic field that is generated by the second magnet as a result of the rotation of the rotating shaft; and a control unit that, while the measurement target is being measured, changes the rotating speed of the rotating shaft in accordance with the position of the first magnet and the second magnet with respect to the installation position.
(FR)La quantité de temps pendant laquelle un sujet est sous le champ magnétique statique d'un dispositif d'IRM de type rotatif dépend de la largeur de la direction de rotation d'un aimant. Les dispositifs d'IRM du type rotatif classique requièrent que la largeur de l'aimant soit modifiée de façon à modifier la quantité de temps pendant laquelle le sujet se trouve sous le champ magnétique statique. L'invention concerne un dispositif de mesure qui est pourvu : d'un premier aimant qui est prévu dans une première plage qui est sur un cercle qui est centré sur un arbre rotatif ; d’un second aimant qui est prévu dans une seconde plage qui est sur un cercle qui est centré sur l'arbre rotatif, la seconde plage étant différente de la première plage ; d’une unité d'entraînement qui fait tourner le premier aimant et le second aimant autour de l'arbre rotatif ; d’une unité de mesure qui est destinée à mesurer une cible de mesure qui est dans une position d'installation à laquelle est appliquée un premier champ magnétique qui est généré par le premier aimant en résultat de la rotation de l'arbre rotatif et un second champ magnétique qui est généré par le second aimant en résultat de la rotation de l'arbre rotatif ; et d’une unité de commande qui, tandis que la cible de mesure est mesurée, change la vitesse de rotation de l'arbre rotatif en fonction de la position du premier aimant et du second aimant relativement à la position d'installation.
(JA) 回転型MRI装置において被検体が静磁場に置かれる時間を磁石の回転方向の幅に依存する。従来の回転型MRI装置によると被検体が静磁場に置かれる時間を変更するには磁石の幅を変更する必要があった。回転軸を中心とする円周上の第1範囲に設けられた第1磁石と、回転軸を中心とする円周上の第1範囲とは異なる第2範囲に設けられた第2磁石と、第1磁石および第2磁石を回転軸を中心として回転させる駆動部と、回転軸の回転に伴って第1磁石により発生された第1磁場および第2磁石により発生された第2磁場のそれぞれが与えられる設置位置に置かれた計測対象を計測するための計測部と、計測対象の計測中において、設置位置に対する第1磁石および第2磁石の位置に応じて回転軸の回転速度を変化させる制御部と、を備える計測装置を提供する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)