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1. (WO2016174990) MASS SPECTROMETER
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/174990    International Application No.:    PCT/JP2016/060873
Publication Date: 03.11.2016 International Filing Date: 01.04.2016
IPC:
H01J 49/42 (2006.01), G01N 27/62 (2006.01), H01J 49/06 (2006.01)
Applicants: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION [JP/JP]; 24-14, Nishi Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058717 (JP)
Inventors: YOSHINARI Kiyomi; (JP).
TERUI Yasushi; (JP)
Agent: TODA Yuji; (JP)
Priority Data:
2015-090984 28.04.2015 JP
Title (EN) MASS SPECTROMETER
(FR) SPECTROMÈTRE DE MASSE
(JA) 質量分析装置
Abstract: front page image
(EN)A mass spectrometer (11) according to the present invention, in order to control ion transmittance (sensitivity), comprises an ion source (2) that ionizes a sample, an ion guide (3) that comprises at least four rod-shaped electrodes and that transports ions, and a mass spectrometer unit (4) that comprises at least four rod-shaped electrodes that perform mass separation, a detector (5) that detects ions that passed through the mass spectrometer unit (4), and a control unit (8) that controls a voltage applied to the ion guide (3), wherein the control unit (8) fluctuates the passing energy of ions passing through the ion guide (3) in accordance with characteristics of the ions set as a target.
(FR)La présente invention concerne un spectromètre de masse (11) afin de commander une transmittance d'ions (sensibilité), qui comprend une source d'ions (2) qui ionise un échantillon, un guide d'ions (3) qui comprend au moins quatre électrodes en forme de tige et qui transporte des ions, et une unité de spectromètre de masse (4) qui comprend au moins quatre électrodes en forme de tige qui réalisent une séparation de masse, un détecteur (5) qui détecte les ions qui sont passés à travers l'unité de spectromètre de masse (4), et une unité de commande (8) qui commande une tension appliquée au guide d'ions (3), l'unité de commande (8) faisant fluctuer le l'énergie de passage d'ions passant à travers le guide d'ions (3) en fonction des caractéristiques des ions établis en tant que cible.
(JA)イオン透過率(感度)をコントロールするために、本発明の質量分析装置(11)は、試料をイオン化するイオン源(2)と、少なくとも4本の棒状電極を有し、イオンを輸送するイオンガイド(3)と、質量分離を行う、少なくとも4本の棒状電極を有する質量分析部(4)と、質量分析部(4)を通過したイオンを検出する、検出器(5)と、イオンガイド(3)に印加する電圧を制御する制御部(8)と、を有し、制御部(8)は、イオンガイド(3)を通過するイオンの通過エネルギーを、ターゲットとするイオンの特性に応じて変動させる。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)