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1. (WO2016174763) COMPONENT INSPECTING MACHINE AND COMPONENT MOUNTING MACHINE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/174763    International Application No.:    PCT/JP2015/062970
Publication Date: 03.11.2016 International Filing Date: 30.04.2015
IPC:
H05K 13/08 (2006.01)
Applicants: FUJI MACHINE MFG. CO., LTD. [JP/JP]; 19, Chausuyama, Yamamachi, Chiryu-shi, Aichi 4728686 (JP)
Inventors: KOTANI, Kazuya; (JP).
OIKE, Hiroshi; (JP).
KURODA, Hideya; (JP)
Agent: ITEC INTERNATIONAL PATENT FIRM; SC Fushimi Bldg., 16-26, Nishiki 2-chome, Naka-ku, Nagoya-shi, Aichi 4600003 (JP)
Priority Data:
Title (EN) COMPONENT INSPECTING MACHINE AND COMPONENT MOUNTING MACHINE
(FR) MACHINE D'INSPECTION DE COMPOSANTS ET MACHINE DE MONTAGE DE COMPOSANTS
(JA) 部品検査機及び部品装着機
Abstract: front page image
(EN)This component mounting machine also serves as a component inspecting machine which inspects the state of arrangement of components mounted on a substrate. The component mounting machine captures, under prescribed imaging conditions, images of specific areas 76 defined inside an arrangement location 70 of a component P on a substrate, calculates the brightness within each specific area 76, from the captured images, and compares the brightnesses with a preset threshold to assess whether or not the component has been arranged within a permissible range in the arrangement location 70. It is thus not necessary to incorporate data used in a conventional substrate external appearance inspecting machine (in other words, component data required to assess discrepancies in the attitude or position of the component) in order to perform the assessment by comparing the brightnesses within the specific areas 76 with the threshold. The external appearance of the substrate can therefore be inspected in a simple manner.
(FR)Cette machine de montage de composants sert également en tant que machine d'inspection de composants, qui inspecte l'état d'agencement de composants montés sur un substrat. La machine de montage de composants capture, dans des conditions d'imagerie prescrites, des images de zones spécifiques 76 définies à l'intérieur d'un emplacement d'agencement 70 d'un composant P sur un substrat, calcule la luminosité à l'intérieur de chaque zone spécifique 76, à partir des images capturées, et compare les luminosités à un seuil prédéfini pour évaluer si le composant a été agencé à l'intérieur d'une plage admissible dans l'emplacement d'agencement 70. Il n'est donc pas nécessaire d'incorporer des données utilisées dans une machine d'inspection d'aspect externe de substrat traditionnelle (en d'autres termes, des données de composant nécessaires à l'évaluation de divergences dans le comportement ou la position du composant) afin d'effectuer l'évaluation par comparaison de la luminosité dans les zones spécifiques 76 avec le seuil. L'aspect externe du substrat peut par conséquent être inspecté de manière simple.
(JA)部品装着機は、基板に装着された部品の配置状態を検査する部品検査機を兼用するものである。この部品装着機は、基板上の部品Pの配置場所70の内側に定められた指定エリア76の画像を所定の撮像条件で撮像し、撮像した画像から指定エリア76内の明るさを算出し、該明るさと予め設定された閾値とを比較してその部品が配置場所70の許容範囲内に配置されているか否かを判定する。このように、指定エリア76内の明るさと閾値を比較して判定を行うため、従来の基板外観検査機で使用されていたデータ(つまり部品の姿勢や位置ズレを判定するのに必要な部品のデータ)を作り込む必要がない。したがって、基板外観検査を簡易に行うことができる。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)