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1. (WO2016173399) CALIBRATION METHOD AND DEVICE FOR BROAD-BAND ACHROMATIC COMPOSITE WAVE PLATE AND CORRESPONDING MEASUREMENT SYSTEM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/173399    International Application No.:    PCT/CN2016/079225
Publication Date: 03.11.2016 International Filing Date: 14.04.2016
IPC:
G01M 11/02 (2006.01)
Applicants: RAINTREE SCIENTIFIC INSTRUMENTS (SHANGHAI) CORPORATION [CN/CN]; Bldg.6, No. 68 Huatuo Road Pudong District Shanghai 201203 (CN)
Inventors: ZHONG, Fengjiao; (CN).
GAO, Haijun; (CN).
DANG, Jiangtao; (CN)
Agent: HANHOW INTELLECTUAL PROPERTY; W1-1111, Oriental Plaza No. 1 East Chang An Avenue Beijing 100738 (CN)
Priority Data:
201510218243.7 30.04.2015 CN
Title (EN) CALIBRATION METHOD AND DEVICE FOR BROAD-BAND ACHROMATIC COMPOSITE WAVE PLATE AND CORRESPONDING MEASUREMENT SYSTEM
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF D'ÉTALONNAGE POUR PLAQUE D'ONDE COMPOSITE ACHROMATIQUE À LARGE BANDE ET SYSTÈME DE MESURE CORRESPONDANT
(ZH) 宽波段消色差复合波片的定标方法和装置及相应测量系统
Abstract: front page image
(EN)Disclosed are a calibration method and device for a composite wave plate (2, 3) and a corresponding measurement system. The calibration method comprises: (A). determining a first matrix characterizing a composite wave plate (2, 3), the first matrix containing at least one unknown number; (B). based on the first matrix, determining a theoretical relationship between light intensity and an alignment angle deviation value of the composite wave plate (2, 3); and (C). based on the theoretical relationship between the light intensity and the alignment angle deviation value of the composite wave plate (2, 3) determined in step (B) and light intensity data obtained through actual measurement, calibrating a second matrix which can characterize the composite wave plate (2, 3) and does not contain the unknown number. By means of the technical solution, when a composite wave plate (2, 3) or a measurement system is calibrated, the number of unknown numbers can be greatly reduced, thereby reducing the difficulty of calibration and improving the accuracy of calibration.
(FR)L'invention concerne un procédé et un dispositif d'étalonnage pour une plaque d'onde composite (2, 3) et un système de mesure correspondant. Le procédé d'étalonnage consiste : (A). à déterminer une première matrice caractérisant une plaque d'onde composite (2, 3), la première matrice contenant au moins un nombre inconnu ; (B). sur la base de la première matrice, à déterminer une relation théorique entre l'intensité lumineuse et une valeur d'écart d'angle d'alignement de la plaque d'onde composite (2, 3) ; et (C). sur la base de la relation théorique entre l'intensité lumineuse et la valeur d'écart d'angle d'alignement de la plaque d'onde composite (2, 3) déterminée dans l'étape (B) et de données d'intensité de lumière obtenues par mesure réelle, à étalonner une seconde matrice qui peut caractériser la plaque d'onde composite (2, 3) et ne contient pas le nombre inconnu. Au moyen de la solution technique, lorsqu'une plaque d'onde composite (2, 3) ou un système de mesure est étalonné, le nombre de nombres inconnus peut être considérablement réduit, ce qui permet de réduire la difficulté d'étalonnage et d'améliorer la précision d'étalonnage.
(ZH)一种用于复合波片(2、3)的定标方法和装置及相应测量系统,该定标方法包括:(A).确定表征复合波片(2、3)的第一矩阵,第一矩阵包含至少一个未知数;(B).基于第一矩阵,确定理论上光强与复合波片(2、3)的对准角度偏离值之间的关系;(C).基于步骤(B)中已确定的理论上光强与复合波片(2、3)的对准角度偏离值之间的关系以及实际测量得到的光强数据,定标出能够表征复合波片(2、3)且不含未知数的第二矩阵。通过该技术方案,在对复合波片(2、3)或测量系统进行定标时,可以大幅减少未知数的数量,从而降低定标的难度,提高定标的精度。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
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African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Chinese (ZH)
Filing Language: Chinese (ZH)