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1. (WO2016135106) PHOTON COUNTING
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Pub. No.: WO/2016/135106 International Application No.: PCT/EP2016/053685
Publication Date: 01.09.2016 International Filing Date: 22.02.2016
IPC:
G01T 1/24 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
T
MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
1
Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
16
Measuring radiation intensity
24
with semiconductor detectors
Applicants:
INSTITUT DE FÍSICA D'ALTES ENERGIES [ES/ES]; Edifici Cn Campus UAB 08193 Bellaterra, ES
Inventors:
CHMEISSANI RAAD, Mokhtar; ES
KOLSTEIN, Machiel; ES
MACÍAS MONTERO, José Gabriel; ES
Agent:
ZBM PATENTS - ZEA, BARLOCCI & MARKVARDSEN; Pl. Catalunya, 1 2nd floor 08002 Barcelona, ES
Priority Data:
15382072.523.02.2015EP
Title (EN) PHOTON COUNTING
(FR) COMPTAGE DE PHOTONS
Abstract:
(EN) A method for photon counting for pixels in a pixelated detector is disclosed, wherein for each of the pixels, one or more neighbouring pixels are defined. The method comprises receiving a charge in one or more of the pixels and comparing for each of the pixels the charge with a trigger threshold. If the charge in a pixel is above the trigger threshold, the charge is registered in the pixel after a registration delay, wherein the registration delay is dependent on the level of the charge received in the pixel in such a way that a registration delay decreases with increasing charge. A counter for a pixel is incremented when the charge is registered and an increment of a counter of the neighbouring pixels is inhibited. Pixelated semiconductor detectors are also disclosed.
(FR) L'invention concerne un procédé de comptage de photons pour des pixels dans un détecteur pixelisé, pour chacun des pixels, un ou plusieurs pixels voisins étant définis. Le procédé comprend la réception d'une charge dans un ou plusieurs des pixels et la comparaison, pour chacun des pixels, de la charge avec un seuil de déclenchement. Si la charge dans un pixel est au-dessus du seuil de déclenchement, la charge est enregistrée dans le pixel après un retard d'enregistrement, le retard d'enregistrement étant dépendant du niveau de la charge reçue dans le pixel de telle sorte qu'un retard d'enregistrement diminue avec l'augmentation de la charge. Un compteur pour un pixel est incrémenté lorsque la charge est enregistrée et un incrément d'un compteur des pixels voisins est inhibé. L'invention concerne également des détecteurs à semi-conducteurs pixelisés.
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Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)
Also published as:
US20170350990CN107438776EP3262441JP2018511044