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1. (WO2016106203) TUNED OSCILLATOR ATOMIC FORCE MICROSCOPY METHODS AND APPARATUS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/106203    International Application No.:    PCT/US2015/067065
Publication Date: 30.06.2016 International Filing Date: 21.12.2015
IPC:
G01Q 60/24 (2010.01)
Applicants: YALE UNIVERSITY [US/US]; Two Whitney Avenue New Haven, CT 06511 (US)
Inventors: SCHWARZ, Udo; (US).
ALTMAN, Eric; (US).
HOLSCHER, Hendrik; (DE).
DAGDEVIREN, Omur, Erdinc; (US)
Agent: MORRIS, James H.; (US)
Priority Data:
62/096,237 23.12.2014 US
Title (EN) TUNED OSCILLATOR ATOMIC FORCE MICROSCOPY METHODS AND APPARATUS
(FR) PROCÉDÉS ET APPAREIL DE MICROSCOPIE À FORCES ATOMIQUES À OSCILLATEUR ACCORDÉ
Abstract: front page image
(EN)Techniques for operating an atomic force microscope, the atomic force microscope comprising a cantilever and configured to image a surface of a sample using a probe tip coupled to the cantilever, the techniques comprising using a controller to perform: obtaining, based on at least one intrinsic parameter of the cantilever, a first quality factor and a first free oscillation amplitude, wherein the cantilever exhibits only one stable oscillation state when oscillating at the first free oscillation amplitude and operating at the first quality factor; and controlling the cantilever to exhibit the only one stable oscillation state by controlling the cantilever to oscillate at a fixed frequency at or near a resonance frequency of the cantilever, oscillate at the first free oscillation amplitude, and operate at the first quality factor.
(FR)L'invention concerne des techniques de fonctionnement d'un microscope à forces atomiques, le microscope à forces atomiques comprenant un porte-à-faux et étant conçu pour former une image d'une surface d'un échantillon à l'aide d'une pointe de sonde couplée au porte-à-faux, les techniques consistant à utiliser un dispositif de commande pour mettre en œuvre : l'obtention, sur la base d'au moins un paramètre intrinsèque du porte-à-faux, d'un premier facteur de qualité et d'une première amplitude d'oscillation libre, le porte-à-faux ayant un seul état d'oscillation stable lorsqu'il oscille à la première amplitude d'oscillation libre et le fonctionnement selon le premier facteur de qualité ; et la commande du porte-à-faux pour qu'il présente le seul état d'oscillation stable par commande du porte-à-faux pour qu'il oscille à une fréquence fixe à une fréquence de résonance, ou à une fréquence proche de cette dernière, du porte-à-faux, qu'il oscille à la première amplitude d'oscillation libre, et qu'il fonctionne selon le premier facteur de qualité.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)