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1. (WO2016104008) RADIATION PHASE-CONTRAST IMAGING DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/104008    International Application No.:    PCT/JP2015/082795
Publication Date: 30.06.2016 International Filing Date: 20.11.2015
IPC:
A61B 6/00 (2006.01), G01N 23/04 (2006.01)
Applicants: SHIMADZU CORPORATION [JP/JP]; 1, Nishinokyo-Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6048511 (JP)
Inventors: TANABE Koichi; (JP).
FURUI Shingo; (JP).
KISHIHARA Hiroyuki; (JP).
KIMURA Kenji; (JP).
SHIRAI Taro; (JP).
DOKI Takahiro; (JP).
SANO Satoshi; (JP).
HORIBA Akira; (JP)
Agent: SUGITANI Tsutomu; (JP)
Priority Data:
2014-258713 22.12.2014 JP
2015-053641 17.03.2015 JP
Title (EN) RADIATION PHASE-CONTRAST IMAGING DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'IMAGERIE PAR CONTRASTE DE PHASE DE RAYONNEMENT
(JA) 放射線位相差撮影装置
Abstract: front page image
(EN)Provided is a radiation phase-contrast imaging device capable of reliably detecting a self-image and precisely imaging the internal structure of an object. According to the configuration of the present invention, the longitudinal direction of a detection surface of an FPD 4 is tilted relative to the extending direction of absorbers in a phase grating 5. This causes variations in the position (phase) of a projected stripe pattern of a self-image at different positions on the detection surface. This is therefore expected to produce the same effect as that obtainable when a plurality of self-images are obtained by performing imaging a plurality of times in such a manner that the position of the projected self-images on the detection surface varies. This alone, however, results in a single fixed self-image phase for a specific area of the object. Therefore the present invention is configured so that the relative positions of imaging systems 3, 4, 5 and the object are changed during imaging.
(FR)La présente invention concerne un dispositif d'imagerie par contraste de phase de rayonnement apte à détecter de manière fiable une image de soi et à imager de manière précise la structure interne d'un objet. Selon la configuration de la présente invention, la direction longitudinale d'une surface de détection d'un FPD (4) est inclinée par rapport à la direction d'extension d'absorbeurs dans un réseau de phase (5). Ceci provoque des variations dans la position (phase) d'un motif à bandes projeté d'une image de soi au niveau de différentes positions sur la surface de détection. On s'attend par conséquent à ce que cela produise le même effet que celui qui peut être obtenu lorsqu'une pluralité d'images de soi sont obtenues par la mise en œuvre d'une imagerie une pluralité de fois de sorte que la position des images de soi projetées sur la surface de détection varie. Cela seul se traduit toutefois par une phase d'image de soi fixe unique pour une zone spécifique de l'objet. Par conséquent, la présente invention est conçue de sorte que les positions relatives de systèmes d'imagerie (3, 4, 5) et de l'objet soient modifiées pendant l'imagerie.
(JA) 確実に自己像を検出して物体の内部構造を詳細にイメージングすることができる放射線位相差撮影装置を提供する。本発明の構成によれば、FPD4の検出面の縦方向が位相格子5における吸収体の伸びる方向に対して傾斜している。すると検出面の位置によって自己像の縞模様が写り込む位置(位相)が異なる。したがって、検出面上における自己像が写り込む位置が互いに異なる複数の撮影を行って複数の自己像を得るのと同じ効果を実現できるものと考えられる。しかし、これだけでは、被写体の特定の場所についての自己像の位相は1つに定まってしまう。そこで、本発明の構成によれば、撮像系3,4,5と被写体との相対位置を変えながら撮影を行うようにしている。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)