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1. (WO2016101786) METHOD AND DEVICE FOR PREDICTING FAILURE OF NONVOLATILE STORAGE MEDIUM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/101786    International Application No.:    PCT/CN2015/096690
Publication Date: 30.06.2016 International Filing Date: 08.12.2015
IPC:
G06F 19/00 (2011.01)
Applicants: HUAWEI TECHNOLOGIES CO., LTD. [CN/CN]; Huawei Administration Building, Bantian, Longgang District Shenzhen, Guangdong 518129 (CN)
Inventors: KONG, Weikang; (CN).
LI, Ding; (CN).
LI, Qiang; (CN)
Priority Data:
201410822384.5 25.12.2014 CN
Title (EN) METHOD AND DEVICE FOR PREDICTING FAILURE OF NONVOLATILE STORAGE MEDIUM
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE PRÉDICTION DE DÉFAILLANCE DE SUPPORT DE STOCKAGE NON VOLATIL
(ZH) 一种预测非易失性存储介质发生故障的方法及装置
Abstract: front page image
(EN)A method and device for predicting a failure of a nonvolatile storage medium. The method comprises: respectively executing any one of at least two nonvolatile storage mediums of a data centre (100); calculating a condition value of any one nonvolatile storage medium, with the condition value being used for characterizing an operating condition of any one nonvolatile storage medium (110); and when it is determined that the condition value is less than an initial preset failure threshold value corresponding to any one nonvolatile storage medium, predicting that any one nonvolatile storage medium will fail, with any two nonvolatile storage mediums with different condition values respectively corresponding to different initial preset failure threshold values (120). In this solution, nonvolatile storage mediums with different condition values respectively correspond to different initial preset failure threshold values, i.e. nonvolatile storage mediums with different condition values respectively correspond to different alarm thresholds. Therefore, the accuracy of predicting the failure of a nonvolatile storage medium is increased.
(FR)L'invention concerne un procédé et un dispositif de prédiction de défaillance d'un support de stockage non volatil. Le procédé comprend les étapes suivantes : exécuter respectivement un support quelconque parmi au moins deux supports de stockage non volatils d'un centre de données (100) ; calculer une valeur d'état d'un support de stockage non volatil quelconque, avec la valeur d'état étant utilisée pour caractériser un état de fonctionnement d'un support de stockage non volatil quelconque (110) ; et lorsqu'il est déterminé que la valeur d'état est inférieure à une valeur de seuil de défaillance initiale prédéfinie correspondant à un support de stockage non volatil quelconque, prédire qu'un support de stockage non volatil quelconque subira une défaillance, avec deux supports de stockage non volatils quelconques avec des valeurs d'état différentes correspondant respectivement à différentes valeurs de seuil de défaillance initiales prédéfinies (120). Dans cette solution, des supports de stockage non volatils avec des valeurs d'état différentes correspondent respectivement à différentes valeurs de seuil de défaillance initiales prédéfinies, c'est-à-dire que des supports de stockage non volatils avec des valeurs d'état différentes correspondent respectivement à différents seuils d'alarme. Par conséquent, la précision de prédiction de la défaillance d'un support de stockage non volatil est augmentée.
(ZH)一种预测非易失性存储介质发生故障的方法及装置:针对数据中心的至少两个非易失性存储介质中的任意一非易失性存储介质,分别执行(100):计算任意一非易失性存储介质的状况值,状况值用于表征任意一非易失性存储介质的运行状况(110);确定状况值小于与任意一非易失性存储介质对应的初始预设故障门限值时,预测任意一非易失性存储介质将发生故障;状况值不同的任意两个非易失性存储介质分别对应的初始预设故障门限值不同(120),在该方案中,状况值不同的非易失性存储介质分别对应不同的初始预设故障门限值,即状况值不同的非易失性存储介质分别对应不同的报警门槛,因此,提高了预测出的发生故障的非易失性存储介质的准确度。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
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African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Chinese (ZH)
Filing Language: Chinese (ZH)