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1. (WO2016100521) METHODS AND APPARATUS FOR MEASURING ANALYTES USING LARGE SCALE FET ARRAYS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/100521    International Application No.:    PCT/US2015/066110
Publication Date: 23.06.2016 International Filing Date: 16.12.2015
IPC:
G01N 27/414 (2006.01)
Applicants: LIFE TECHNOLOGIES CORPORATION [US/US]; 5791 Van Allen Way Carlsbad, California 92008 (US)
Inventors: FIFE, Keith G.; (US)
Agent: WILLIAMS, Genja; (US)
Priority Data:
62/093,851 18.12.2014 US
Title (EN) METHODS AND APPARATUS FOR MEASURING ANALYTES USING LARGE SCALE FET ARRAYS
(FR) PROCÉDÉ ET APPAREIL POUR MESURER DES ANALYTES AU MOYEN DE RÉSEAUX DE TEC À GRANDE ÉCHELLE
Abstract: front page image
(EN)A semiconductor device, comprising a first field effect transistor (FET) connected in series to a second FET, and a third FET connected in series to the first FET and the second FET. The semiconductor device further includes bias circuitry coupled to the first FET and the second FET, and an output conductor coupled to a terminal of the second FET, wherein the output conductor obtains an output signal from the second FET that is independent of the first FET.
(FR)Un dispositif à semi-conducteur qui comprend un premier transistor à effet de champ (TEC) connecté en série à un deuxième TEC, et un troisième TEC connecté en série avec le premier TEC et le deuxième TEC. Le dispositif à semi-conducteur comprend en outre un circuit de polarisation couplé au premier TEC et au deuxième TEC, et un conducteur de sortie couplé à une borne du deuxième TEC, le conducteur de sortie obtenant un signal de sortie provenant du deuxième TEC qui est indépendant du premier TEC.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)