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1. (WO2016099981) BATCH AUTHENTICATION OF MATERIALS FOR AUTOMATED ANTI COUNTERFEITING
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/099981    International Application No.:    PCT/US2015/064279
Publication Date: 23.06.2016 International Filing Date: 07.12.2015
IPC:
G01N 21/64 (2006.01), G01V 15/00 (2006.01), G03G 15/00 (2006.01)
Applicants: 3M INNOVATIVE PROPERTIES COMPANY [US/US]; 3M Center Post Office Box 33427 Saint Paul, Minnesota 55133-3427 (US)
Inventors: SABELLI, Anthony J.; (US).
SCHUMACHER, Jennifer F.; (US).
SHKEL, Yanina; (US).
STANKIEWICZ, Brian J.; (US).
CASNER, Glenn E.; (US).
WHEATLEY, John A.; (US).
BONIFAS, Andrew P.; (US).
SIVALINGAM, Ravishankar; (US)
Agent: DONG, Yufeng; (US)
Priority Data:
62/093,467 18.12.2014 US
Title (EN) BATCH AUTHENTICATION OF MATERIALS FOR AUTOMATED ANTI COUNTERFEITING
(FR) AUTHENTIFICATION DE LOT DE MATÉRIAUX POUR UNE ANTI-CONTREFAÇON AUTOMATISÉE
Abstract: front page image
(EN)Systems and methods for authenticating material samples are provided. Characteristic features are measured for a batch of material samples that comprise substantially the same composition and are produced by substantially the same process. The measured characteristic features have respective variability that is analyzed to extract statistical parameters. In some cases, reference ranges are determined based on the extracted statistical parameters for the batch of material samples. The corresponding statistical parameters of a test material sample are compared to the reference ranges to verify whether the test material sample is authentic.
(FR)L'invention concerne des systèmes et des procédés permettant d'authentifier des échantillons de matériau. Des éléments caractéristiques sont mesurés pour un lot d'échantillons de matériau qui présentent sensiblement la même composition et sont produits par sensiblement le même procédé. Les éléments caractéristiques mesurés présentent une variabilité respective qui est analysée de sorte à extraire des paramètres statistiques. Dans certains cas, des plages de référence sont déterminées en se basant sur les paramètres statistiques extraits pour le lot d'échantillons de matériau. Les paramètres statistiques correspondants d'un échantillon de matériau de test sont comparés aux plages de référence pour vérifier si l'échantillon de matériau de test est authentique.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)