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1. (WO2016099915) SYSTEMS AND METHODS FOR DETERMINING DIELECTRIC CONSTANT OR RESISTIVITY FROM ELECTROMAGNETIC PROPAGATION MEASUREMENT USING CONTRACTION MAPPING
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/099915    International Application No.:    PCT/US2015/063618
Publication Date: 23.06.2016 International Filing Date: 03.12.2015
IPC:
E21B 47/00 (2006.01), G01V 3/18 (2006.01), G01V 3/38 (2006.01)
Applicants: SCHLUMBERGER CANADA LIMITED [CA/CA]; 125 - 9 Avenue SE Calgary, Alberta T2G 0P6 (CA) (CA only).
SERVICES PETROLIERS SCHLUMBERGER [FR/FR]; 42 rue Saint Dominique 75007 Paris (FR) (FR only).
SCHLUMBERGER TECHNOLOGY B.V. [NL/NL]; Parkstraat 83-89m NL-2514 JG The Hague (NL) (AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BH, BJ, BN, BR, BW, BY, BZ, CF, CG, CH, CI, CL, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GT, GW, HN, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IR, IS, IT, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MC, MD, ME, MG, MK, ML, MN, MR, MT, MW, MX, MY, MZ, NA, NE, NG, NI, NL, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SM, SN, ST, SV, SY, SZ, TD, TG, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW only).
SCHLUMBERGER TECHNOLOGY CORPORATION [US/US]; 300 Schlumberger Drive, Sugar Land, Texas 77478 (US) (US only)
Inventors: WANG, Gong Li; (US).
ZHAO, Tianxia; (US).
SUN, Keli; (US).
ABUBAKAR, Aria; (US)
Agent: VEREB, John; (US)
Priority Data:
62/092,316 16.12.2014 US
14/957,531 02.12.2015 US
Title (EN) SYSTEMS AND METHODS FOR DETERMINING DIELECTRIC CONSTANT OR RESISTIVITY FROM ELECTROMAGNETIC PROPAGATION MEASUREMENT USING CONTRACTION MAPPING
(FR) SYSTÈMES ET PROCÉDÉS POUR LA DÉTERMINATION DE CONSTANTE DIÉLECTRIQUE OU DE RÉSISTIVITÉ À PARTIR D'UNE MESURE DE PROPAGATION ÉLECTROMAGNÉTIQUE À L'AIDE DE LA CARTOGRAPHIE DES CONTRACTIONS
Abstract: front page image
(EN)Identifying the dielectric constant and/or the electrical resistivity of part of a geological formation may reveal useful characteristics of the geological formation. This disclosure provides methods, systems, and machine-readable media to determine dielectric constant or electrical resistivity, or both, using contraction mapping. Specifically, contraction mapping may be used with a function of wavenumber k to iteratively solve for values of dielectric constant and electrical resistivity until convergence is achieved. This may allow for convergence to a solution without computing partial derivatives and/or with fewer iterations than previous techniques
(FR)L'identification de la constante diélectrique et/ou de la résistivité électrique d'une partie d'une formation géologique peut révéler des caractéristiques utiles de la formation géologique. La présente invention concerne des procédés, des systèmes et des supports lisibles par machine pour déterminer la constante diélectrique ou la résistivité électrique, ou des deux, à l'aide d'une cartographie des contractions. Plus précisément, la cartographie des contractions peut être utilisée avec une fonction du nombre d'onde k pour trouver par itération des valeurs de constante diélectrique et de résistivité électrique jusqu'à ce qu'une convergence soit obtenue. Ceci peut permettre d'aboutir à une convergence vers une solution sans le calcul de dérivées partielles et/ou avec moins d'itérations que les techniques précédentes.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)