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1. (WO2016099704) METHOD FOR DIAGNOSING OPTICAL SPECTROMETERS OF DOWNHOLE TOOLS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/099704    International Application No.:    PCT/US2015/059725
Publication Date: 23.06.2016 International Filing Date: 09.11.2015
IPC:
E21B 49/08 (2006.01), E21B 47/00 (2006.01), G01V 8/02 (2006.01)
Applicants: SCHLUMBERGER CANADA LIMITED [CA/CA]; 125 - 9 Avenue SE Calgary, Alberta T2G 0P6 (CA) (CA only).
SERVICES PETROLIERS SCHLUMBERGER [FR/FR]; 42 rue Saint Dominique F-75007 Paris (FR) (FR only).
SCHLUMBERGER TECHNOLOGY B.V. [NL/NL]; Parkstraat 83-89m NL-2514 JG The Hague (NL) (AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BH, BJ, BN, BR, BW, BY, BZ, CF, CG, CH, CI, CL, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GT, GW, HN, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IR, IS, IT, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MC, MD, ME, MG, MK, ML, MN, MR, MT, MW, MX, MY, MZ, NA, NE, NG, NI, NL, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SM, SN, ST, SV, SY, SZ, TD, TG, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW only).
SCHLUMBERGER TECHNOLOGY CORPORATION [US/US]; 300 Schlumberger Drive, Sugar Land, Texas 77478 (US) (US only)
Inventors: INDO, Kentaro; (US).
PETIT, Alexis; (SA).
AGARWAL, Vivek; (US).
OSSIA, Sepand; (US).
POP, Julian; (US).
HSU, Kai; (US)
Agent: KINCAID, Kenneth; (US)
Priority Data:
14/577,573 19.12.2014 US
Title (EN) METHOD FOR DIAGNOSING OPTICAL SPECTROMETERS OF DOWNHOLE TOOLS
(FR) PROCÉDÉ POUR DIAGNOSTIQUER DES SPECTROMÈTRES OPTIQUES D'OUTILS DE FOND DE TROU
Abstract: front page image
(EN)A method for analyzing the condition of a spectrometer is provided. In one embodiment, the method includes acquiring optical data from a spectrometer of a downhole tool during flushing of a flowline and selecting a data set from the acquired optical data. The method can also include estimating light scattering and optical drift for the spectrometer based on the selected data set and determining impacts of the estimated light scattering and optical drift for the spectrometer on measurement accuracy of a characteristic of a downhole fluid determinable through analysis of the downhole fluid using the spectrometer. Additional methods, systems, and devices are also disclosed.
(FR)L'invention concerne un procédé pour analyser l'état d'un spectromètre. Dans un mode de réalisation, le procédé comprend d'acquérir des données optiques à partir d'un spectromètre d'un outil de fond de trou lors du rinçage d'une conduite d'écoulement et de sélectionner un ensemble de données parmi les données optiques acquises. Le procédé peut également comprendre d'estimer une diffusion de lumière et une dérive optique du spectromètre sur la base de l'ensemble de données, et de déterminer des impacts de la diffusion de lumière et de la dérive optique estimées du spectromètre sur la précision de mesure d'une caractéristique d'un fluide de fond de trou déterminable par l'analyse du fluide de fond de trou à l'aide du spectromètre. L'invention porte également sur d'autres procédés, systèmes et dispositifs.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)