WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Machine translation
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/098653    International Application No.:    PCT/JP2015/084492
Publication Date: 23.06.2016 International Filing Date: 09.12.2015
G01N 21/64 (2006.01)
Applicants: KONICA MINOLTA, INC. [JP/JP]; 2-7-2, Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo 1007015 (JP)
Inventors: MURAYAMA, Takanori; (--)
Agent: WASHIDA, Kimihito; (JP)
Priority Data:
2014-253407 15.12.2014 JP
(JA) 検出方法および検出装置
Abstract: front page image
(EN)A measuring device provides a sample on a metal film of a chip that includes the metal film and a captured body immobilized on the metal film to bind the captured body and a substance to be detected (first step). Subsequent to the first step, the measuring device measures the temperature of the metal film, and determines the incident angle of incident light as an enhancement angle or a resonance angle on the basis of information on a relationship between the temperature of the metal film and the enhancement angle or the resonance angle (second step). After the second step, the measuring device emits the incident light to the metal film at the enhancement angle or at the resonance angle, and detects a signal caused by the incident light, thereby detecting the substance to be detected (third step).
(FR)La présente invention concerne un dispositif de mesure utilisant un échantillon sur un film métallique d'une puce qui comprend ledit film métallique et un corps capturé immobilisé sur le film métallique permettant de relier le corps capturé et une substance à détecter (première étape). Après la première étape, le dispositif de mesure mesure la température du film métallique, et détermine l'angle d'incidence de la lumière incidente sous la forme d'un angle d'amélioration ou d'un angle de résonance sur la base d'informations sur une relation entre la température du film métallique et l'angle d'amélioration ou l'angle de résonance (deuxième étape). Après la deuxième étape, le dispositif de mesure émet une lumière incidente sur le film métallique audit angle d'amélioration ou audit angle de résonance, et détecte un signal provoqué par la lumière incidente, ce qui permet de détecter la substance à détecter (troisième étape).
(JA) 測定装置は、金属膜と、金属膜上に固定された捕捉体とを有するチップの金属膜上に検体を提供して、捕捉体と被検出物質とを結合させる(第1工程)。第1工程の後、測定装置は、金属膜の温度を測定し、金属膜の温度と増強角または共鳴角との関係の情報に基づいて、入射光の入射角を増強角または共鳴角に決定する(第2工程)。第2の工程の後、測定装置は、増強角または共鳴角で金属膜に対して入射光を照射させ、入射光によって生じたシグナルを検出することで被検出物質を検出する(第3工程)。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)