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1. (WO2016098576) CONTACT-TYPE POSITION MEASUREMENT DEVICE AND MEASUREMENT METHOD USING SAME
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/098576    International Application No.:    PCT/JP2015/083714
Publication Date: 23.06.2016 International Filing Date: 01.12.2015
IPC:
G01B 5/12 (2006.01), B23Q 17/20 (2006.01)
Applicants: DMG MORI CO., LTD. [JP/JP]; 106 Kitakoriyama-cho, Yamatokoriyama-shi, Nara 6391160 (JP)
Inventors: SATO Koji; (JP)
Agent: SHIMOICHI Tsutomu; (JP)
Priority Data:
2014-252937 15.12.2014 JP
Title (EN) CONTACT-TYPE POSITION MEASUREMENT DEVICE AND MEASUREMENT METHOD USING SAME
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE POSITION DE TYPE À CONTACT ET PROCÉDÉ DE MESURE UTILISANT CELUI-CI
(JA) 接触式位置測定器及び該位置測定器を用いた測定方法
Abstract: front page image
(EN)[Problem] To provide a contact-type position measurement device that makes it possible to improve the precision with which a chamfered hole is measured without having a detrimental effect on costs and workability. [Solution] A contact-type position measurement device 7 provided with: a shaft hole diameter measurement probe 12 that measures a shaft hole diameter D1 as a result of being moved in a radial direction and brought into contact with the inner circumferential surface of a shaft hole W1 extending in an axial direction; and a chamfered hole measurement probe 13 that measures a chamfered hole diameter D2 as a result of being moved in the axial direction and brought into contact with the inner circumferential surface of a chamfered hole W2.
(FR)[Problème] Fournir un dispositif de mesure de position de type à contact qui permet d'améliorer la précision avec laquelle un trou chanfreiné est mesuré sans avoir d’effet néfaste sur les coûts et l’ouvrabilité. [Solution] La présente invention concerne un dispositif de mesure de position de type à contact 7 pourvu de : une sonde de mesure de diamètre de trou axial 12 qui mesure un diamètre de trou axial D1 en conséquence de son déplacement dans une direction radiale et de sa mise en contact avec la surface circonférentielle interne d'un trou axial W1 s'étendant dans une direction axiale ; et une sonde de mesure de trou chanfreiné 13 qui mesure le diamètre d’un trou chanfreiné D2 en conséquence de son déplacement dans dans la direction axiale et sa mise en contact avec la surface circonférentielle interne d'un trou chanfreiné W2.
(JA)【課題】コスト及び作業性の悪化を招くことなく、面取り穴の測定精度を向上できる接触式位置測定器を提供する。【解決手段】接触式位置測定器7を構成するにあたって、径方向に移動させて軸方向に延びる軸穴W1の内周面に接触させることにより軸穴径D1を測定する軸穴径測定子12と、前記軸方向に移動させて面取り穴W2の内周面に接触させることにより面取り穴径D2を測定する面取り穴径測定子13とを備える。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)