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1. (WO2016098224) INSPECTION PROBE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/098224    International Application No.:    PCT/JP2014/083553
Publication Date: 23.06.2016 International Filing Date: 18.12.2014
IPC:
G01N 29/24 (2006.01), G01N 29/26 (2006.01)
Applicants: IHI CORPORATION [JP/JP]; 1-1, Toyosu 3-chome, Koto-ku, Tokyo 1358710 (JP)
Inventors: HAMANO Toshiaki; (JP).
SHIINA Eisuke; (JP)
Agent: TERAMOTO Mitsuo; (JP)
Priority Data:
Title (EN) INSPECTION PROBE
(FR) SONDE D'INSPECTION
(JA) 検査プローブ
Abstract: front page image
(EN)An inspection system inspection probe (100) having an ultrasonic transceiver (2) that is freely movable over a subject, irradiates ultrasound onto the subject, and detects reflected waves and a calculation processing device (5) for carrying out calculation processing on the basis of the detection results of the ultrasonic transceiver (2) and acquiring flaw detection results for the subject, wherein the inspection probe (100) is provided with a chassis (10) that is transparent, transmits ultrasound, and makes movement possible over a seat member (1) on which a two-dimensional pattern (1a) that is arrayed on the subject and indicates positions on the subject is drawn, the ultrasonic transceiver (2), which is fixed to the chassis (10), a reader (3) that is fixed to the chassis (10) and reads the two-dimensional pattern (1a), and illumination (6) fixed to the chassis (10), and the ultrasonic transceiver (2) is fixed to the chassis (10) so that the point of incidence (L2) of the ultrasound from the ultrasonic transceiver (2) incident on the opposing surface (SP) of the subject is within the angle of view (γ) of the reader (3).
(FR)La présente invention concerne une sonde d'inspection (100) de système d'inspection ayant un émetteur/récepteur à ultrasons (2) qui peut se déplacer librement au-dessus d'un sujet, expose le sujet à des ultrasons et détecte des ondes réfléchies, ainsi qu'un dispositif de traitement de calcul (5) destiné à mettre en œuvre un traitement de calcul sur la base des résultats de détection de l'émetteur/récepteur à ultrasons (2) et à acquérir des résultats de détection de défauts pour le sujet. La sonde d'inspection (100) comprend un châssis (10) qui est transparent, transmet des ultrasons et rend possible un déplacement au-dessus d'un élément (1) de siège sur lequel est tracé un motif bidimensionnel (1a) qui est disposé en réseau sur le sujet et qui indique des positions sur le sujet ; l'émetteur/récepteur à ultrasons (2), qui est fixé au châssis (10) ; un lecteur (3) qui est fixé au châssis (10) et lit le motif bidimensionnel (1a) ; et un éclairage (6) fixé au châssis (10) ; et l'émetteur/récepteur à ultrasons (2) est fixé au châssis (10) de sorte que le point d'incidence (L2) des ultrasons en provenance de l'émetteur/récepteur à ultrasons (2) incidents sur la surface opposée (SP) du sujet soit à l'intérieur de l'angle de vue (γ) du lecteur (3).
(JA) 被検体上を移動自在であり、前記被検体に超音波を照射して、反射波を検出する超音波探触子(2)と、前記超音波探触子(2)による検出結果に基づいて演算処理を実行し、前記被検体の探傷結果を取得する演算処理装置(5)とを有する検査システムの検査プローブ(100)であって、前記検査プローブ(100)は、前記被検体上に配列され前記被検体上の位置を示す2次元模様(1a)が描かれているシート材(1)上を移動自在とされ、透明性と音波透過性とを備える筐体(10)と、前記筐体(10)に固定された前記超音波探触子(2)と、前記筐体(10)に固定され前記2次元模様(1a)を読み取るリーダー(3)と、前記筐体(10)に固定された照明(6)と、を備え、前記超音波探触子(2)から前記被検体の対向面(SP)に入射する超音波の入射点(L2)が、前記リーダー(3)の画角(γ)内に入るように前記筐体(10)に前記超音波探触子(2)が固定されている。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)