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1. (WO2016096580) BASELINE SHIFT DETERMINATION FOR A PHOTON DETECTOR
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/096580    International Application No.:    PCT/EP2015/079181
Publication Date: 23.06.2016 International Filing Date: 10.12.2015
IPC:
G01T 1/40 (2006.01)
Applicants: KONINKLIJKE PHILIPS N.V. [NL/NL]; High Tech Campus 5 5656 AE Eindhoven (NL)
Inventors: ROESSL, Ewald; (NL)
Agent: VERSTEEG, Dennis John; (NL)
Priority Data:
14198239.7 16.12.2014 EP
Title (EN) BASELINE SHIFT DETERMINATION FOR A PHOTON DETECTOR
(FR) DÉTERMINATION DE DÉCALAGE DE LIGNE DE BASE POUR UN DÉTECTEUR DE PHOTONS
Abstract: front page image
(EN)The present invention relates to determining baseline shift of an electrical signal generated by a photon detector (102) of an X-ray examination device (101). For this purpose,the photon detector comprises a processing unit (103) that is configured to determine a first crossing frequency of a first pulse height threshold by the electrical signal generated by the photon detector. The first pulse height threshold is located at a first edge of a noise peak in the pulse height spectrum of the electrical signal.
(FR)La présente invention concerne la détermination d'un décalage de la ligne de base d'un signal électrique généré par un détecteur de photons (102) d'un dispositif d'examen à rayons X (101). Pour ce faire, le détecteur de photons comprend une unité de traitement (103) qui est configurée pour déterminer une première fréquence de croisement d'un premier seuil de hauteur d'impulsion par le signal électrique généré par le détecteur de photons. Le premier seuil de hauteur d'impulsion est situé au niveau d'un premier bord d'un pic de bruit dans le spectre de hauteur d'impulsion du signal électrique.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)