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1. (WO2016095769) IONIC CONDUCTIVITY TEST DEVICE, AND TEST METHOD USING SAME
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/095769    International Application No.:    PCT/CN2015/097224
Publication Date: 23.06.2016 International Filing Date: 14.12.2015
IPC:
G01N 27/04 (2006.01)
Applicants: DALIAN INSTITUTE OF CHEMICAL PHYSICS, CHINESE ACADEMY OF SCIENCES [CN/CN]; 457 Zhongshan Road Dalian, Liaoning 116023 (CN)
Inventors: SUN, Gongquan; (CN).
XIA, Zhangxun; (CN).
WANG, Suli; (CN).
FU, Xudong; (CN)
Agent: SHENYANG PATENT & TRADEMARK AGENCY ACADEMIA SINICA; 24 Sanhao Street, Heping District Shenyang, Liaoning 110004 (CN)
Priority Data:
201410811333.2 19.12.2014 CN
201510902821.9 09.12.2015 CN
Title (EN) IONIC CONDUCTIVITY TEST DEVICE, AND TEST METHOD USING SAME
(FR) DISPOSITIF DE TEST DE CONDUCTIVITÉ IONIQUE ET PROCÉDÉ DE TEST L'UTILISANT
(ZH) 一种离子电导率测试装置及采用其的测试方法
Abstract: front page image
(EN)An ionic conductivity test device, comprising a voltage/current test device and a test electrode. The test electrode comprises a bulk substrate, four through-holes are provided on the bulk substrate in a linear arrangement, four platinum wires are respectively inserted into the four through-holes, upper ends of the platinum wires are located outside the bulk substrate, lower ends of the platinum wires are located inside the bulk substrate, the linear arrangement refers to the axes of the four platinum wires being located on a same plane, and the four platinum wires are parallel to one another. The distance between end surfaces of the lower ends of the platinum wires and a lower surface of the bulk substrate is 0.1-2mm, and the insides of the through-holes between the end surfaces of the lower ends of the platinum wires and the lower surface of the bulk substrate are filled with an ionic conductor polymer. The test device solves the problem in the prior art of it being difficult to measure the ionic conductivity in an electron conductor. Using the test device and method to test the ionic conductivity in an electron conductor is an accurate method of measurement, and reflects the ionic conductance properties in the material. The present invention has advantages such as accurate testing, separation of electron conductance and ionic conductance, accurate temperature and humidity control, and good reproducibility. A test process is simplified, and measurement efficiency is increased.
(FR)La présente invention concerne un dispositif de test de conductivité ionique, comprenant un dispositif de test de tension/courant et une électrode de test. L'électrode de test comprend un substrat en vrac, quatre trous traversants sont disposés sur le substrat en vrac selon un agencement linéaire, quatre fils de platine sont respectivement insérés dans les quatre trous traversants, les extrémités supérieures des fils de platine sont situées à l'extérieur du substrat en vrac, les extrémités inférieures des fils de platine sont situées à l'intérieur du substrat en vrac, l'agencement linéaire se réfère aux axes des quatre fils de platine étant situés sur un même plan, et les quatre fils de platine sont parallèles les uns aux autres. La distance entre les surfaces d'extrémité des extrémités inférieures des fils de platine et une surface inférieure du substrat en vrac est de 0,1 à 2 mm, et les intérieurs des trous traversants entre les surfaces d'extrémité des extrémités inférieures des fils de platine et la surface inférieure du substrat en vrac sont remplis d'un polymère conducteur ionique. Le dispositif de test permet de résoudre le problème de l'art antérieur relatif à la difficulté de mesure de la conductivité ionique dans un conducteur d'électrons. L'utilisation du dispositif de test et d'un procédé permettant de tester la conductivité ionique dans un conducteur d'électrons constitué un procédé précis de mesure, et reflète les propriétés de conductance ionique dans le matériau. La présente invention présente des avantages tels qu'un test précis, la séparation de la conductance des électrons et de la conductance ionique, une régulation précise de la température et de l'humidité et une bonne reproductibilité. Un procédé de test est simplifié, et l'efficacité de la mesure est augmentée.
(ZH)一种离子电导率测试装置,包括一电压/电流测试装置和一测试电极;所述测试电极包括一块体基底,于所述块体基底上设有线性排列的四个通孔,四根铂丝分别插入四个通孔内,铂丝的上端处于块体基底外部,铂丝的下端处于块体基底内部,所述线性排列是指四根铂丝的轴线处于同一平面上,四根铂丝相互平行;所述铂丝下端端面与块体基底下表面的距离为0.1-2mm之间,于所述铂丝下端端面与块体基底下表面之间的通孔内部填充有离子导体聚合物。该测试装置解决了现有技术中电子导体中离子电导率难以测量的问题,采用所述测试装置和方法测试电子导体中的离子电导率测量方法准确,可反应材料中离子的电导特性。同时具有测试准确,可实现电子电导与离子电导的分离,且温湿度控制准确、重现性好等优点,简化了测试流程,提高了测量效率。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Chinese (ZH)
Filing Language: Chinese (ZH)