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1. (WO2016095314) ARRAY SUBSTRATE AND DISPLAY DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/095314    International Application No.:    PCT/CN2015/071073
Publication Date: 23.06.2016 International Filing Date: 20.01.2015
IPC:
G02F 1/13 (2006.01)
Applicants: SHENZHEN CHINA STAR OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY CO., LTD. [CN/CN]; No.9-2, Tangming Road, Guangming New District Shenzhen, Guangdong 518132 (CN)
Inventors: GAO, Dongzi; (CN)
Agent: YUHONG INTELLECTUAL PROPERTY LAW FIRM; WU Dajian/LIU Hualian West Wing, Suite 713, One Junefield Plaza, 6 Xuanwumenwai Street, Xicheng District Beijing 100052 (CN)
Priority Data:
201410795752.1 18.12.2014 CN
Title (EN) ARRAY SUBSTRATE AND DISPLAY DEVICE
(FR) SUBSTRAT DE RÉSEAU ET DISPOSITIF D'AFFICHAGE
(ZH) 阵列基板及显示装置
Abstract: front page image
(EN)The present invention relates to the technical field of display. An array substrate and display device are used for addressing the technical problem in the prior art that a test line is prone to a damage from an electro-static discharge; the array substrate comprises a display area (100) and a test area (200); a test circuit set (10) and at least two test terminal sets (20, 30) are provided in the test area (200); each test terminal of all of the test terminal sets (20, 30) is separately and correspondingly connected to respective test line in the test circuit set (10); one of the test lines is a common electrode line for testing a common metal line and a common electrode. The array substrate is suitable for a display device such as a liquid-crystal-display television, a liquid crystal display, a mobile phone and a tablet computer.
(FR)La présente invention se rapporte au domaine technique de l'affichage. Un substrat de réseau et un dispositif d'affichage sont utilisés pour traiter le problème technique de l'état de la technique selon lequel une ligne de test est susceptible d'être détériorée à partir d'une décharge électrostatique; le substrat de réseau comprend une zone d'affichage (100) et une zone d'essai (200); un ensemble circuit d'essai (10) et au moins deux ensembles de bornes d'essai (20, 30) sont prévus dans la zone d'essai (200); chaque borne d'essai de tous les ensembles de bornes d'essai (20, 30) est connectée séparément et de manière correspondante à chaque ligne d'essai dans l'ensemble circuit d'essai (10); l'une des lignes d'essai est une ligne d'électrode commune pour tester une ligne métallique commune et une électrode commune. Le substrat de réseau est approprié pour un dispositif d'affichage tel qu'une télévision à affichage à cristaux liquides, un affichage à cristaux liquides, un téléphone mobile et une tablette électronique.
(ZH)一种阵列基板及显示装置,属于显示技术领域,解决了现有技术容易对测试线造成静电击伤的技术问题。该阵列基板,包括显示区域(100)和测试区域(200),所述测试区域(200)中设置有一组测试线路(10)和至少两组测试端子(20,30);每组所述测试端子(20,30)中的各个测试端子,分别对应连接所述测试线路(10)中的各条测试线;其中一条测试线为公共电极线,用于公共金属线的测试和公共电极的测试。可用于液晶电视、液晶显示器、手机、平板电脑等显示装置。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Chinese (ZH)
Filing Language: Chinese (ZH)