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1. (WO2016092813) ADAPTER FOR MICROSCOPE SYSTEM AND MICROSCOPE SYSTEM INCLUDING THE ADAPTER
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/092813    International Application No.:    PCT/JP2015/006081
Publication Date: 16.06.2016 International Filing Date: 08.12.2015
IPC:
G02B 21/36 (2006.01)
Applicants: CANON KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 30-2, Shimomaruko 3-chome, Ohta-ku, Tokyo 1468501 (JP)
Inventors: SAKAMOTO, Michiie; (JP).
HASHIGUCHI, Akinori; (JP).
MASUDA, Shinobu; (JP).
SAKATA, Tsuguhide; (JP).
NAGATSUKA, Osamu; (JP).
NISHIKAWA, Koichiro; (JP)
Agent: OHTSUKA, Yasunori; (JP)
Priority Data:
2014-250313 10.12.2014 JP
Title (EN) ADAPTER FOR MICROSCOPE SYSTEM AND MICROSCOPE SYSTEM INCLUDING THE ADAPTER
(FR) ADAPTATEUR POUR SYSTÈME DE MICROSCOPE, ET SYSTÈME DE MICROSCOPE COMPRENANT L'ADAPTATEUR
Abstract: front page image
(EN)An adapter configured to connect a microscope and an imaging unit, comprises a first member connected to the microscope and a second member connected to the imaging unit. The adapter further comprises a positioning unit for determining the microscope and the imaging unit to a predetermined positional relationship at a first accuracy, and a driving mechanism that changes a positional relationship between the first member and the second member at a second accuracy higher than the first accuracy, thereby changing the positional relationship between the microscope and the imaging unit determined by the positioning unit.
(FR)L'invention concerne un adaptateur conçu pour relier un microscope et une unité d'imagerie, qui comprend un premier élément relié au microscope et un second élément relié à l'unité d'imagerie. L'adaptateur comprend en outre une unité de positionnement pour déterminer le microscope et l'unité d'imagerie dans une relation de position prédéfinie à une première précision, et un mécanisme d'entraînement qui change une relation de position entre le premier élément et le second élément à une seconde précision supérieure à la première précision, ce qui permet de changer la relation de position entre le microscope et l'unité d'imagerie déterminée par l'unité de positionnement.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)