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1. (WO2016092053) METHOD AND DEVICE FOR MEASURING FEATURES OF WORKPIECES
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/092053    International Application No.:    PCT/EP2015/079339
Publication Date: 16.06.2016 International Filing Date: 11.12.2015
IPC:
G01B 5/012 (2006.01), G01B 11/00 (2006.01), G01B 11/245 (2006.01)
Applicants: WERTH MESSTECHNIK GMBH [DE/DE]; Siemensstr. 19 35394 Gießen (DE)
Inventors: CHRISTOPH, Ralf; (DE).
SCHMIDT, Ingomar; (DE).
WEGNER, Volker; (DE).
ANDRÄS, Matthias; (DE).
NEUSCHAEFER-RUBE, Ulrich; (DE).
ETTEMEYER, Andreas; (CH).
DEMIREL, Mehmet; (AT).
LINZ-DITTRICH, Sabine; (LI).
HOPP, Benjamin; (DE)
Agent: STOFFREGEN, Hans-Herbert; (DE)
Priority Data:
10 2014 118 525.0 12.12.2014 DE
10 2015 112 521.8 30.07.2015 DE
10 2015 120 060.0 19.11.2015 DE
Title (DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR MESSUNG VON MERKMALEN AN WERKSTÜCKEN
(EN) METHOD AND DEVICE FOR MEASURING FEATURES OF WORKPIECES
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE MESURE DE CARACTÉRISTIQUES SUR DES PIÈCES
Abstract: front page image
(DE)Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Vorrichtung zur geometrischen Bestimmung von Merkmalen an einem Werkstück, umfassend einen Bildverarbeitungssensor mit einem ersten Strahlengang, wobei der erste Strahlengang zumindest eine Frontoptik umfasst, welche dem zu messenden Werkstück zugewandt ist, und wobei auf der vom Werkstück abgewandten Seite der Frontoptik mindestens ein optischer Teiler angeordnet ist, durch den ein zweiter Strahlengang mit dem Bildverarbeitungsstrahlengang gekoppelt und ein gemeinsamer Strahlengang gebildet wird, wobei der zweite Strahlengang einem zweiten optischen Sensor zugeordnet ist, wobei der Bildverarbeitungssensor und der zweite Sensor zur direkten Messung der Werkstückoberfläche ausgebildet sind. Die Frontoptik ist als Asphäre ausgebildet und/oder weist chromatischen Längsfehler auf.
(EN)The invention relates to a method and device for geometrically determining features of a workpiece, comprising an image processing sensor having a first beam path, said first beam path comprising at least one front optical unit facing the workpiece to be measured, and an optical splitter being mounted on the side of the front optical unit facing away from the workpiece. Said optical splitter connects a second beam path to the image processing beam path, a common beam path being formed, and said second beam path being associated with a second optical sensor, the image processing sensor and the second sensor being designed to directly measure the surface of the workpiece. The front optical unit is formed as an asphere and/or has a longitudinal chromatic aberration.
(FR)Procédé et dispositif de détermination géométrique de caractéristiques sur une pièce. Ledit dispositif comprend un capteur de traitement d'image pourvu d'un premier trajet optique, le premier trajet optique comportant au moins une optique frontale orientée vers la pièce à mesurer. Au moins un diviseur optique est disposé du côté de l'optique frontale opposé à la pièce, et couple un second trajet optique avec le trajet optique de traitement d'image, ce qui permet la formation d'un trajet optique commun. Le second trajet optique est associé à un second capteur optique, le capteur de traitement d'image et le second capteur étant conçus pour la mesure directe de la surface de la pièce. L'optique frontale est conçue sous forme asphérique et/ou comporte des défauts longitudinaux chromatiques.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)