WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2016091749) METHOD FOR OBTAINING AN IMAGE OF A SAMPLE, AND ASSOCIATED LENS-FREE IMAGING SYSTEM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/091749    International Application No.:    PCT/EP2015/078673
Publication Date: 16.06.2016 International Filing Date: 04.12.2015
IPC:
G01N 15/14 (2006.01), G03H 1/08 (2006.01), G06K 9/20 (2006.01)
Applicants: COMMISSARIAT À L'ÉNERGIE ATOMIQUE ET AUX ÉNERGIES ALTERNATIVES [FR/FR]; Bâtiment le Ponant D 25 rue Leblanc 75015 Paris (FR).
IPRASENSE SAS [FR/FR]; Avenue de l'Europe Cap Alpha 34830 Clapiers (FR)
Inventors: BORDY, Thomas; (FR).
ESTEBAN, Geoffrey; (FR).
MOREL, Sophie; (FR)
Agent: BLOT, Philippe; (FR)
Priority Data:
1462128 09.12.2014 FR
Title (EN) METHOD FOR OBTAINING AN IMAGE OF A SAMPLE, AND ASSOCIATED LENS-FREE IMAGING SYSTEM
(FR) PROCÉDÉ D'OBTENTION D'UNE IMAGE D'UN ÉCHANTILLON, ET SYSTÈME ASSOCIÉ D'IMAGERIE SANS LENTILLE
Abstract: front page image
(EN)This method for obtaining an image of a sample (24) is carried out via an imaging system (20) comprising a light source (30), a sample support (26) receiving the sample and a photodetector matrix (32), the sample support being disposed between each source and the photodetector. The method comprises the emission, from an emission position relative to the sample support, of a light beam for illuminating the sample in an illumination direction (Z), by means of a light source; and the acquisition of several images of the sample by means of the photodetector, each being formed by radiation emitted by the illuminated sample and comprising a diffraction pattern corresponding to waves diffracted upon illumination of the sample, each image corresponding to an emission position, the various emission positions being offset relative to each other perpendicularly to the illumination direction. The method further comprises the calculation of a resulting image of the sample from the various acquired images.
(FR)Ce procédé d'obtention d'une image d'un échantillon (24) est réalisé via un système d'imagerie (20) comprenant une source lumineuse (30), un support d'échantillon (26) recevant l'échantillon et un photodétecteur matriciel (32), le support d'échantillon étant disposé entre chaque source et le photodétecteur. Le procédé comprend l'émission, depuis une position d'émission par rapport au support d'échantillon, d'un faisceau lumineux d'éclairement de l'échantillon selon une direction d'éclairement (Z), à l'aide d'une source lumineuse; et l'acquisition de plusieurs images de l'échantillon à l'aide du photodétecteur, chacune étant formée par un rayonnement transmis par l'échantillon éclairé et comportant une figure de diffraction correspondant à des ondes diffractées lors de l'éclairement de l'échantillon, chaque image correspondant à une position d'émission, les différentes positions d'émission étant décalées les unes des autres perpendiculairement à la direction d'éclairement. Le procédé comprend en outre le calcul d'une image résultante de l'échantillon à partir des différentes images acquises.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: French (FR)
Filing Language: French (FR)