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1. (WO2016091710) METHOD FOR DETERMINING A MEASUREMENT VARIABLE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/091710    International Application No.:    PCT/EP2015/078494
Publication Date: 16.06.2016 International Filing Date: 03.12.2015
IPC:
H03M 1/00 (2006.01), H03M 1/10 (2006.01), H03M 1/66 (2006.01)
Applicants: ROBERT BOSCH GMBH [DE/DE]; Postfach 30 02 20 70442 Stuttgart (DE)
Inventors: REISCHL, Rolf; (DE).
WREDE, Martin; (DE).
BEVOT, Claudius; (DE).
MEZGER, Florian; (DE).
KRAEMER, Ralf; (DE).
MITTASCH, Anne-Katrin; (DE).
SCHULZ, Thomas; (DE).
LEDERMANN, Bernhard; (DE)
Priority Data:
102014225112.5 08.12.2014 DE
Title (DE) VERFAHREN ZUR BESTIMMUNG EINER MESSGRÖßE
(EN) METHOD FOR DETERMINING A MEASUREMENT VARIABLE
(FR) PROCÉDÉ DE DÉTERMINATION D’UNE GRANDEUR DE MESURE
Abstract: front page image
(DE)Verfahren zur Bestimmung einer Messgröße (Q), gekennzeichnet durch folgende Schritte: - Bereitstellung eines Modells (M) einer Schaltung (DAC) mit mindestens einem Parameter (tau, Imax) - Ansteuerung der Schaltung (DAC) mit einem vorgegebenen Signal (H) und Erfassung von Werten (I1, I2, I3) einer durch die Schaltung erzeugten Stellgröße (I) in n diskreten Zeitpunkten (t1, t2, t3) und Ermittlung eines Wertes (tauDAC, ImaxDAC) des mindestens einen Parameters (tau, Imax) auf Basis der erfassten Werte (I1, I2, I3) der durch die Schaltung (DAC) erzeugten Stellgröße (I) - Erfassung von Werten (J1, J2) einer durch die Schaltung (DAC) beeinflussten Größe (J) in m diskreten Zeitpunkten (T1, T2) und Bestimmung der Messgröße (Q) aus den Messwerten (J1, J2) der durch die Schaltung (DAC) beeinflussten Größe (J) unter Berücksichtigung des Modells (M) der Schaltung (DAC)
(EN)The invention relates to a method for determining a measurement variable (Q), characterized by the following steps: providing a model (M) of a circuit (DAC) having at least one parameter (tau, Imax); actuating the circuit (DAC) by way of a preset signal (H), and detecting values (l1, l2,l3) of a manipulated variable (I) generated by the circuit in n discrete points in time (t1, t2, t3), and determining a value (tauDAC, lmaxDAC) of the at least one Parameter (tau, lmax) on the basis of the detected values (I1, l2, l3) of the manipulated variable (I) generated by the circuit (DAC); detecting values (J1, J2) of a variable (J) influenced by the circuit (DAC) in m discrete points in time (T1, T2), and determining the measurement variable (Q) from the measurement values (J1, J2) of the variable (J) influenced by the circuit (DAC), taking into account the model (M) of the circuit (DAC).
(FR)L'invention concerne un procédé de détermination d’une grandeur de mesure (Q), caractérisé par les étapes suivantes : - la préparation d’un modèle (M) d’un circuit (DAC) avec au moins un paramètre (tau, Imax) ; - la commande du circuit (DAC) avec un signal prédéfini (H) et la détection de valeurs (I1, I2, I3) d’une grandeur de commande (I) générée par le circuit au cours de n instants discrets (t1, t2, t3) et la détermination d’une valeur (tauDAC, ImaxDAC) du ou des paramètres (tau, Imax) sur la base des valeurs détectées (I1, I2, I3) de la grandeur de commande (I) générée par le circuit (DAC) ; - la détection de valeurs (J1, J2) d’une grandeur (J) influant le circuit (DAC) au cours de m instants discrets (T1, T2) et la détermination de la grandeur de mesure (Q) à partir des valeurs de mesure (J1, J2) de la grandeur (J) influencée par le circuit (DAC) en tenant compte du modèle (M) du circuit (DAC).
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)