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1. (WO2016090017) DIAGNOSTIC CIRCUIT TEST DRIVE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/090017    International Application No.:    PCT/US2015/063470
Publication Date: 09.06.2016 International Filing Date: 02.12.2015
IPC:
G01R 19/00 (2006.01), G01R 13/00 (2006.01), G06F 3/01 (2006.01)
Applicants: BARDEN, David [US/US]; (US).
CARTON, Joshua [US/US]; (US).
RUSSELL, Wayne [US/US]; (US)
Inventors: BARDEN, David; (US).
CARTON, Joshua; (US).
RUSSELL, Wayne; (US)
Agent: SAYED, Hani, Z.; (US)
Priority Data:
14/955,557 01.12.2015 US
62/087,165 03.12.2014 US
Title (EN) DIAGNOSTIC CIRCUIT TEST DRIVE
(FR) COMMANDE DE TEST DE CIRCUIT DIAGNOSTIQUE
Abstract: front page image
(EN)An apparatus is provided for a diagnostic circuit test device having multi-meter functionality and being adapted to provide current sourcing to an electrical system for selective measurement of a plurality of parameters thereof in powered and unpowered states. The diagnostic circuit test device comprises a conductive probe element configured to be placed into contact with the electrical system and provide an input signal thereto. A power supply is interconnected between an internal power source and the conductive probe element. Processors are electrically connected to the conductive probe element and configured to manipulate the input signal provided to the electrical system and receive an output signal in response to the input signal. The output signal is representative of at least one of the parameters of the electrical system. A display device is configured to display a reading of the output signal which is representative of the parameter.
(FR)La présente invention concerne un appareil pour un dispositif de test de circuit diagnostique ayant une fonctionnalité multi-mesures et étant adapté pour fournir un approvisionnement de courant d’un système électrique pour la mesure sélective d'une pluralité de paramètres de celui-ci dans des états alimenté et non alimenté. Le dispositif de test de circuit de diagnostic comprend un élément de sonde conducteur configuré pour être placé en contact avec le système électrique et fournir un signal d'entrée à celui-ci. Une alimentation électrique est interconnectée entre une source d'alimentation interne et l'élément de sonde conducteur. Des processeurs sont électriquement connectés à l'élément de sonde conducteur et configurés pour manipuler le signal d'entrée fourni au système électrique et recevoir un signal de sortie en réponse au signal d'entrée. Le signal de sortie est représentatif d'au moins un des paramètres du système électrique. Un dispositif d'affichage est configuré pour afficher une lecture du signal de sortie qui est représentative du paramètre.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)