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1. (WO2016089954) SYSTEM AND METHOD FOR ESTIMATING MATERIAL DENSITY
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/089954    International Application No.:    PCT/US2015/063357
Publication Date: 09.06.2016 International Filing Date: 02.12.2015
IPC:
G01V 5/12 (2006.01)
Applicants: GENERAL ELECTRIC COMPANY [US/US]; 1 River Road Schenectady, NY 12345 (US)
Inventors: LEXA, Michael, Anthony; (US).
GANESH, Meena; (US).
LAFLEN, John, Brandon; (US).
SMAARDYK, John, Edward; (US).
STEINMAN, Donald, K.; (US)
Agent: DOMBROWSKI, Joanna, M.; (US)
Priority Data:
14/561,662 05.12.2014 US
Title (EN) SYSTEM AND METHOD FOR ESTIMATING MATERIAL DENSITY
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ D'ESTIMATION DE LA DENSITÉ D'UN MATÉRIAU
Abstract: front page image
(EN)A method implemented using one or more computer processors for estimating the density of a material in an annular space includes receiving detector data representative of scattered photons resulting from interaction of a material in an annular space with radiation from a radiation source and detected by a plurality of radiation detectors. The technique further includes performing a set of Monte Carlo simulations. The method further includes performing a principal component analysis on the set of Monte Carlo simulations to generate a principal component analysis model of the detector data. The method also includes estimating the density of the material at one or more locations within the annular space based upon the principal component analysis model and the detector data.
(FR)L'invention concerne un procédé mis en œuvre à l'aide d'un ou de plusieurs processeurs d'ordinateur pour estimer la densité d'un matériau dans un espace annulaire. Ledit procédé consiste à recevoir des données de détecteur représentant des photons diffusés obtenus de l'interaction d'un matériau dans un espace annulaire avec un rayonnement provenant d'une source de rayonnement et détecté par une pluralité de détecteurs de rayonnement. La technique consiste en outre à réaliser un ensemble de simulations de Monte Carlo. Le procédé consiste en outre à réaliser une analyse de composantes principales sur l'ensemble de simulations de Monte Carlo pour générer un modèle d'analyse de composantes principales des données de détecteur. Le procédé consiste également à estimer la densité du matériau au niveau d'un ou de plusieurs emplacements à l'intérieur de l'espace annulaire sur la base du modèle d'analyse de composantes principales et des données de détecteur.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)