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Pub. No.:    WO/2016/088568    International Application No.:    PCT/JP2015/082576
Publication Date: 09.06.2016 International Filing Date: 19.11.2015
G01J 3/36 (2006.01), G01N 21/64 (2006.01)
Applicants: HAMAMATSU PHOTONICS K.K. [JP/JP]; 1126-1, Ichino-cho, Higashi-ku, Hamamatsu-shi, Shizuoka 4358558 (JP)
Inventors: SUZUKI Kengo; (JP).
IGUCHI Kazuya; (JP)
Agent: HASEGAWA Yoshiki; (JP)
Priority Data:
2014-243641 02.12.2014 JP
(JA) 分光測定装置および分光測定方法
Abstract: front page image
(EN)This spectrometry device (1) is provided with: a light source (10); an integrator (20); a first spectroscopic detector (41); a second spectroscopic detector (42); and an analysis unit (50). The integrator (20) is provided with: an internal space (21) in which an object to be measured is disposed; a light input unit (22) which inputs light into the internal space (21); a light output unit (23) which outputs light from the internal space (21); and a sample attachment unit (24) for attaching the object to be measured. The first spectroscopic detector (41) receives the light outputted from the integrator (20), disperses light of a first wavelength range among said light, and acquires first spectral data. The second spectroscopic detector (42) receives the light outputted from the integrator (20), disperses light of a second wavelength range among said light, and acquires second spectral data. The first wavelength range and the second wavelength range include wavelength ranges which partially overlap. As a result, a spectrometry device and a spectrometry method are achieved which are capable of performing spectrometry on light to be measured having an even broader wavelength range.
(FR)L'invention concerne un dispositif de spectrométrie (1) qui comprend : une source de lumière (10) ; un intégrateur (20) ; un premier détecteur spectroscopique ; (41) un second détecteur spectroscopique (42) ; et une unité d'analyse (50). L'intégrateur (20) comprend : un espace interne (21) dans lequel est disposé un objet à mesurer ; une unité d'entrée de lumière (22) qui fait entrer la lumière dans l'espace interne (21) ; une unité de sortie de lumière (23) qui émet de la lumière à partir de l'espace interne (21) ; et une unité de fixation d'échantillon (24) qui permet de fixer l'objet à mesurer. Le premier détecteur spectroscopique (41) reçoit de la lumière émise par l'intégrateur (20), disperse la lumière d'une première plage de longueurs d'ondes parmi ladite lumière, et acquiert des premières données spectrales. Le second détecteur spectroscopique (42) reçoit la lumière émise à partir de l'intégrateur (20), disperse la lumière d'une seconde plage de longueurs d'ondes parmi ladite lumière, et acquiert des secondes données spectrales. La première plage de longueurs d'ondes et la seconde plage de longueurs d'ondes comprennent des plages de longueurs d'ondes qui se chevauchent partiellement. L'invention propose ainsi un dispositif de spectrométrie et un procédé de spectrométrie qui permettent d'assurer une mise en oeuvre de la spectrométrie sur la lumière à mesurer ayant une plage de longueurs d'ondes encore plus large.
(JA) 分光測定装置1は、光源10、積分器20、第1分光検出器41、第2分光検出器42および解析部50を備える。積分器20は、測定対象物が配置される内部空間21と、光を内部空間21に入力する光入力部22と、内部空間21から光を出力する光出力部23と、測定対象物を取り付ける試料取付部24と、を有する。第1分光検出器41は、積分器20から出力された光を受光して、その光のうち第1波長域の光を分光して第1スペクトルデータを取得する。第2分光検出器42は、積分器20から出力された光を受光して、その光のうち第2波長域の光を分光して第2スペクトルデータを取得する。第1波長域と第2波長域とは一部重複する波長域を含む。これにより、より広い波長域の被測定光を分光測定することができる分光測定装置および分光測定方法が実現される。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)