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1. (WO2016087796) METHOD OF MANUFACTURING PARTS, BASED ON THE ANALYSIS OF WEIGHTED STATISTICAL INDICATORS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/087796    International Application No.:    PCT/FR2015/053323
Publication Date: 09.06.2016 International Filing Date: 04.12.2015
IPC:
G01D 21/00 (2006.01), G06Q 10/06 (2012.01), G06Q 50/04 (2012.01)
Applicants: SAFRAN AIRCRAFT ENGINES [FR/FR]; 2 boulevard du Général Martial Valin 75015 Paris (FR)
Inventors: FERRY, Olivier; (FR).
CAMBEFORT, Arnaud; (FR).
COURTIN, Pascal; (FR).
HARDOUIN, Nicolas; (FR).
CLERET DE LANGAVANT, Charles; (FR)
Agent: REGIMBEAU; 20, rue de Chazelles 75847 Paris Cedex 17 (FR)
Priority Data:
1461991 05.12.2014 FR
Title (EN) METHOD OF MANUFACTURING PARTS, BASED ON THE ANALYSIS OF WEIGHTED STATISTICAL INDICATORS
(FR) PROCÉDÉ DE FABRICATION DE PIÈCES BASÉ SUR L'ANALYSE D'INDICATEURS STATISTIQUES PONDÉRÉS
Abstract: front page image
(EN)The invention pertains to a method of manufacturing parts produced with a manufacturing device, based on the analysis of at least one statistical indicator representative of a characteristic dimension of the parts, according to which: a) in the course of time several samples are collected, each sample comprising several parts produced with the manufacturing device; b) the characteristic dimension of each part of the sample is measured; c) for each sample collected a weighted mean and a weighted standard deviation of the characteristic dimension are calculated according to an exponential weighting on the basis of a mean and standard deviation of the characteristic dimensions measured on the parts of said sample, of weighted means and of weighted standard deviations of the characteristic dimension which are calculated for previously collected samples; d) for each sample collected a value of the statistical indicator is calculated on the basis of the weighted mean and of the weighted standard deviation thus calculated; e) a value of the statistical indicator thus calculated for the sample collected is compared with a reference value to detect a possible deviation; f) the manufacture of the parts is steered as a function of the results of the comparison by fitting the manufacturing device adjustment parameters to optimize the deviation between the value of the statistical indicator and the reference value.
(FR)L'invention porte sur un procédé de fabrication de pièces produites avec un dispositif de fabrication, basé sur l'analyse d'au moins un indicateur statistique représentatif d'une dimension caractéristique des pièces, selon lequel: a) On prélève au cours du temps plusieurs échantillons, chaque échantillon comprenant plusieurs pièces produites avec le dispositif de fabrication; b) On mesure la dimension caractéristique de chaque pièce de l'échantillon; c) On calcule pour chaque échantillon prélevé une moyenne pondérée et un écart-1 type pondéré de la dimension caractéristique selon une pondération exponentielle à partir d'une moyenne et d'un écart-type des dimensions caractéristiques mesurées sur les pièces dudit échantillon, ode moyennes pondérées et d'écarts-type pondérés de la dimension caractéristique calculés pour des échantillons prélevés précédemment; d)On calcule pour chaque échantillon prélevé une valeur de l'indicateur statistique à partir de la moyenne pondérée et de l'écart type pondéré ainsi calculés; e) On compare la valeur de l'indicateur statistique ainsi calculée pour l'échantillon prélevé à une valeur de référence pour détecter un écart éventuel; f) On pilote la fabrication des pièces en fonction des résultats de la comparaison en ajustant des paramètres de réglage du dispositif de fabrication pour optimiser l'écart entre la valeur de l'indicateur statistique et la valeur de référence.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: French (FR)
Filing Language: French (FR)