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1. (WO2016086643) COVERAGE DISTANCE ACQUIRING METHOD AND APPARATUS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/086643    International Application No.:    PCT/CN2015/081578
Publication Date: 09.06.2016 International Filing Date: 16.06.2015
IPC:
H04W 24/00 (2009.01)
Applicants: ZTE CORPORATION [CN/CN]; ZTE Plaza Keji Road South, Hi-Tech Industrial Park, Nanshan District Shenzhen, Guangdong 518057 (CN)
Inventors: JI, Shuping; (CN).
ZHAO, Libo; (CN)
Agent: KANGXIN PARTNERS, P.C.; Floor 16, Tower A, Indo Building A48 Zhichun Road, Haidian District Beijing 100098 (CN)
Priority Data:
201410734988.4 05.12.2014 CN
Title (EN) COVERAGE DISTANCE ACQUIRING METHOD AND APPARATUS
(FR) PROCÉDÉ ET APPAREIL D’ACQUISITION DE DISTANCE DE COUVERTURE
(ZH) 覆盖距离的获取方法及装置
Abstract: front page image
(EN)Disclosed are a coverage distance acquiring method and apparatus. The method comprises: determining, according to a pre-acquired correspondence between test rates and coverage distances in single-cell coverage tests, a cumulative percentage Pi when an ith test rate is lower than a reference rate in the coverage tests, wherein Pi is the ratio of a cumulative sum of distances at which a first test rate to an ith test rate are lower than the reference rate to a test distance at which the ith test rate is higher than the reference rate in the coverage tests; determining, according to a pre-acquired cell line coverage rate Pclc, whether Pi is higher than Pclc; and if the determining result is yes, determining that a distance Did at which the ith test rate is lower than the reference rate in coverage distances in the coverage tests is a coverage distance of the single-cell coverage tests. By using the technical scheme provided in the present invention, the problem of lacking a criterion for determining a cell coverage capability in the related art is solved.
(FR)L’invention concerne un procédé et un appareil d’acquisition de distance de couverture. Le procédé consiste à : déterminer, selon une correspondance pré-acquise entre des taux d'essai et des distances de couverture dans des essais de couverture de cellule unique, un pourcentage cumulatif Pi lorsqu’un iième taux d'essai est inférieur à un taux de référence dans les essais de couverture, Pi étant le rapport d’une somme cumulative de distances auxquelles un premier taux d'essai à un iième taux d'essai sont inférieurs aux taux de référence à une distance d'essai à laquelle le iième taux d'essai est supérieur au taux de référence dans les essais de couverture ; déterminer, selon un taux de couverture de ligne de cellule pré-acquis Pclc, si Pi est ou non supérieur à Pclc ; et si le résultat de détermination est oui, déterminer qu’une distance Did à laquelle le iième taux d'essai est inférieur au taux de référence dans des distances de couverture dans les essais de couverture est une distance de couverture des essais de couverture de cellule unique. Par utilisation du schéma technique fourni dans la présente invention, le problème de manque d’un critère pour déterminer une capacité de couverture de cellule dans l’état de la technique associé est résolu.
(ZH)本发明公开了一种覆盖距离的获取方法及装置,该方法包括:依据预先获取的单小区覆盖测试的测试速率与覆盖距离的对应关系,确定覆盖测试中第i次测试速率小于基准速率时累计百分比Pi,其中,Pi为覆盖测试中第1次到第i次测试速率小于基准速率的距离累积和,与第i次测试速率大于基准速率时的测试距离的比值;依据预先获取的小区线覆盖率Pclc,判断Pi是否大于Pclc;在判断结果为是的情况下,确定覆盖测试中覆盖距离中的第i次测试速率小于基准速率的距离Did为单小区覆盖测试的覆盖距离。采用本发明提供的上述技术方案,解决了相关技术中缺少测定小区覆盖能力的判断准则的问题。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Chinese (ZH)
Filing Language: Chinese (ZH)