WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2016085927) EXPLOITATION OF SECOND-ORDER EFFECTS IN ATOMIC FORCE MICROSCOPY
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/085927    International Application No.:    PCT/US2015/062320
Publication Date: 02.06.2016 International Filing Date: 24.11.2015
IPC:
G01Q 10/06 (2010.01), G01Q 60/34 (2010.01), G01N 3/42 (2006.01)
Applicants: TUFTS UNIVERSITY [US/US]; Ballou Hall Medford, MA 02155 (US)
Inventors: DOKUKIN, Maxim; (US).
SOKOLOV, Igor; (US)
Agent: REINGAND, Nadya; (US)
Priority Data:
14/554,394 26.11.2014 US
Title (EN) EXPLOITATION OF SECOND-ORDER EFFECTS IN ATOMIC FORCE MICROSCOPY
(FR) EXPLOITATION D'EFFETS DE SECOND ORDRE EN MICROSCOPIE À FORCE ATOMIQUE
Abstract: front page image
(EN)A processing system cooperates with an atomic force microscope operating in ramp mode at a ramp frequency is configured to collect data indicative of at least one of physical and chemical properties of a sample. The system collects data indicative of probe movement at a frequency that is higher than the ramp frequency. This data comprises a second-order portion of the probe's signal. Based at least in part on the second-order portion, the processor obtains a parameter that is indicative at least one of a physical and a chemical property of a sample.
(FR)L'invention concerne un système de traitement qui coopère avec un microscope à force atomique fonctionnant en mode rampe à une fréquence de rampe qui est configuré pour collecter des données indicatives d'au moins l'une de propriétés physiques et chimiques d'un échantillon. Le système collecte des données indicatives d'un mouvement de sonde à une fréquence qui est supérieure à la fréquence de rampe. Ces données comprennent une partie du second ordre du signal de la sonde. Sur la base au moins en partie de la partie de second ordre, le processeur obtient un paramètre qui est indicatif d'au moins l'une d'une propriété physique et chimique d'un échantillon.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)