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1. (WO2016085473) LIGHT REDIRECTING TEST FIXTURE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/085473    International Application No.:    PCT/US2014/067379
Publication Date: 02.06.2016 International Filing Date: 25.11.2014
IPC:
G01R 31/26 (2014.01), G01J 1/02 (2006.01)
Applicants: HEWLETT PACKARD ENTERPRISE DEVELOPMENT LP [US/US]; 11445 Compaq Center Drive West Houston, TX 77070 (US)
Inventors: MATHAI, Sagi Varghese,; (US).
WOODY, Christopher; (US).
CULLER, Jason H,; (US).
ROSENBERG, Paul K,; (US).
SORIN, Wayne V,; (US).
TAN, Michael Renne Ty,; (US).
PANOTOPOULOS, Georgios; (US)
Agent: LIOU, Lisa W,; (US)
Priority Data:
Title (EN) LIGHT REDIRECTING TEST FIXTURE
(FR) ACCESSOIRE DE TEST DE REDIRECTION DE LUMIÈRE
Abstract: front page image
(EN)In the examples provided herein, an apparatus has a part with a first reflective surface and a second reflective surface. The apparatus also has alignment features coupled to the part to align the part to a substrate upon which an optical source, a detector, and an integrated circuit are coupled. When the part is aligned to the substrate via the alignment features, the part is positioned to enable: 1) some light emitted by the optical source to be reflected from the first reflective surface; 2) some light reflected from the first reflective surface to be reflected from the second reflective surface; and 3) some light reflected from the second reflective surface to impinge on the detector.
(FR)Dans les exemples fournis dans la présente invention, un appareil présente une partie dotée d'une première surface réfléchissante et d'une seconde surface réfléchissante. L'appareil comporte également des caractéristiques d'alignement accouplées à ladite partie pour aligner ladite partie sur un substrat sur lequel sont couplés une source optique, un détecteur, et un circuit intégré. Lorsque ladite partie est alignée sur le substrat par l'intermédiaire des caractéristiques d'alignement, ladite partie est disposée de façon à ce que : 1) une partie de la lumière émise par la source optique soit réfléchie par la première surface réfléchissante ; 2) une partie de la lumière réfléchie par la première surface réfléchissante soit réfléchie par la seconde surface réfléchissante ; et 3) une partie de la lumière réfléchie par la seconde surface réfléchissante soit incidente sur le détecteur.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)