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1. (WO2016084722) ALUMINA SINTERED BODY AND GROUND SUBSTRATE FOR OPTICAL ELEMENT
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/084722    International Application No.:    PCT/JP2015/082644
Publication Date: 02.06.2016 International Filing Date: 20.11.2015
IPC:
C04B 35/115 (2006.01), G02B 1/00 (2006.01)
Applicants: NGK INSULATORS, LTD. [JP/JP]; 2-56, Suda-cho, Mizuho-ku, Nagoya-city, Aichi 4678530 (JP)
Inventors: MATSUSHIMA, Kiyoshi; (JP).
WATANABE, Morimichi; (JP).
SATO, Kei; (JP).
NANATAKI, Tsutomu; (JP)
Agent: ITEC INTERNATIONAL PATENT FIRM; SC Fushimi Bldg., 16-26, Nishiki 2-chome, Naka-ku, Nagoya-shi, Aichi 4600003 (JP)
Priority Data:
2014-241683 28.11.2014 JP
Title (EN) ALUMINA SINTERED BODY AND GROUND SUBSTRATE FOR OPTICAL ELEMENT
(FR) CORPS FRITTÉ D'ALUMINE ET SUBSTRAT DE BASE POUR ÉLÉMENT OPTIQUE
(JA) アルミナ焼結体及び光学素子用下地基板
Abstract: front page image
(EN)This alumina sintered body exhibits a c-plane orientation of 90% or higher when obtained by the Lotgering method using an X-ray diffraction profile in the range of 2θ=20-70° when irradiating a plate surface with X-rays, has zero air holes when viewing a cross-section perpendicular to the plate surface by using a scanning electron microscope at a magnification of 5000 times, after polishing using an Ar+ ion beam and a shielding plate, and exhibits a total mass proportion of impurity elements other than Mg and C of 100 ppm or less. This alumina sintered body has high orientation, high density and high purity, and as a result, exhibits a higher translucency than does the prior art.
(FR)La présente invention concerne un corps fritté d'alumine faisant preuve d'une orientation dans le plan c de 90 % ou plus lorsqu'il est obtenu selon le procédé de Lotgering à l'aide d'un profil de diffraction des rayons X compris dans la plage de 2θ = 20 à 70° lors de l'exposition d'une surface plane à des rayons X, qui ne présente aucun trou d'air lorsqu'une coupe transversale perpendiculaire à la surface plane à est vue l'aide d'un microscope électronique à balayage à un grossissement de 5 000, après polissage à l'aide d'un faisceau d'ions Ar+ et d'une plaque de blindage, et faisant preuve d'une proportion totale en masse d'éléments d'impuretés autres que Mg et C de 100 ppm ou moins. Le corps fritté d'alumine présente une orientation élevée, une densité élevée et une pureté élevée, et en résultat, fait preuve d'une translucidité supérieure à celle de l'art antérieur.
(JA) 本発明のアルミナ焼結体は、板面に対してX線を照射したときの2θ=20°~70°の範囲におけるX線回折プロファイルを用いてロットゲーリング法により求めたc面配向度が90%以上であり、板面と垂直な方向で切断した断面をAr+イオンビームと遮蔽板を用いて研磨したあと走査型電子顕微鏡にて倍率5000倍で調べたときの気孔の数がゼロであり、Mg,C以外の不純物元素の合計の質量割合が100ppm以下のものである。このアルミナ焼結体は、高配向、高密度、高純度であるため、従来に比べて高い透光性を有している。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)