WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2016084486) ANALYSIS DEVICE, ANALYSIS METHOD, AND PROGRAM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/084486    International Application No.:    PCT/JP2015/078412
Publication Date: 02.06.2016 International Filing Date: 06.10.2015
IPC:
A61B 5/053 (2006.01)
Applicants: SONY CORPORATION [JP/JP]; 1-7-1, Konan, Minato-ku, Tokyo 1080075 (JP)
Inventors: NISHIMURA, Takuya; (JP).
WADA, Seiji; (JP).
KURIIWA, Yuuji; (JP)
Agent: KAMEYA, Yoshiaki; (JP)
Priority Data:
2014-237560 25.11.2014 JP
Title (EN) ANALYSIS DEVICE, ANALYSIS METHOD, AND PROGRAM
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE, PROCÉDÉ D'ANALYSE ET PROGRAMME
(JA) 解析装置、解析方法およびプログラム
Abstract: front page image
(EN)[Problem] To improve measurement accuracy while minimizing restrictions when measuring skin impedance or skin conductance. [Solution] Provided is an analysis device comprising a data acquisition unit for acquiring data of impedance or conductance measured by passing an AC current between a pair of electrodes in contact with the skin of a user, and an analysis unit for extracting biological information of the user from the data. Provided is an analysis method for extracting biological information of a user from the impedance or conductance data measured by passing an AC current between at least one pair of electrodes in contact with the skin of the user. Provided is a program for realizing, in a computer, a function for extracting biological information of a user from the impedance or conductance data measured by passing an AC current between at least one pair of electrodes in contact with the skin of the user.
(FR)Le problème décrit par la présente invention est d'améliorer la précision de mesure tout en réduisant au minimum les restrictions lors de la mesure de l'impédance de la peau ou de la conductance de la peau. La solution de l'invention concerne un dispositif d'analyse comprenant une unité d'acquisition de données pour acquérir des données d'impédance ou de conductance mesurées par le passage d'un courant alternatif entre une paire d'électrodes en contact avec la peau d'un utilisateur, ainsi qu'une unité d'analyse pour extraire des informations biologiques de l'utilisateur à partir des données. L'invention concerne un procédé d'analyse pour extraire des informations biologiques d'un utilisateur à partir des données d'impédance ou de conductance mesurées par le passage d'un courant alternatif entre au moins un paire d'électrodes en contact avec la peau de l'utilisateur. L'invention concerne un programme pour réaliser, dans un ordinateur, une fonction pour extraire des informations biologiques d'un utilisateur à partir des données d'impédance ou de conductance mesurées par le passage d'un courant alternatif entre au moins une paire d'électrodes en contact avec la peau de l'utilisateur.
(JA)【課題】皮膚インピーダンスまたは皮膚コンダクタンスの測定における制約を最小化しつつ、測定の精度を向上させる。 【解決手段】ユーザの皮膚に接触する電極対の間に交流電流を流すことによって測定されるインピーダンスまたはコンダクタンスのデータを取得するデータ取得部と、上記データから上記ユーザの生体情報を抽出する解析部とを備える解析装置が提供される。プロセッサが、ユーザの皮膚に接触する少なくとも1対の電極の間に交流電流を流すことによって測定されるインピーダンスまたはコンダクタンスのデータから上記ユーザの生体情報を抽出することを含む解析方法が提供される。ユーザの皮膚に接触する少なくとも1対の電極の間に交流電流を流すことによって測定されるインピーダンスまたはコンダクタンスのデータから、上記ユーザの生体情報を抽出する機能をコンピュータに実現させるためのプログラムが提供される。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)