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1. (WO2016082899) REMOVAL OF SAMPLING CLOCK JITTER INDUCED IN AN OUTPUT SIGNAL OF AN ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTER
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/082899    International Application No.:    PCT/EP2014/076031
Publication Date: 02.06.2016 International Filing Date: 28.11.2014
IPC:
H03M 1/08 (2006.01), H03M 1/10 (2006.01), H03M 1/12 (2006.01)
Applicants: ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 1-32-1, Asahi-cho Nerima-ku Tokyo 179-0071 (JP) (AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BH, BJ, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CF, CG, CH, CI, CL, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, FR, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GT, GW, HN, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IR, IS, IT, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MC, MD, ME, MG, MK, ML, MN, MR, MT, MW, MX, MY, MZ, NA, NE, NG, NI, NL, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SM, SN, ST, SV, SY, SZ, TD, TG, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW only).
LAQUAI, Bernd [DE/DE]; (DE) (US only)
Inventors: LAQUAI, Bernd; (DE)
Agent: BURGER, Markus; (DE)
Priority Data:
Title (EN) REMOVAL OF SAMPLING CLOCK JITTER INDUCED IN AN OUTPUT SIGNAL OF AN ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTER
(FR) SUPPRESSION DE LA GIGUE D'HORLOGE D'ÉCHANTILLONNAGE INDUITE DANS UN SIGNAL DE SORTIE D'UN CONVERTISSEUR ANALOGIQUE-NUMÉRIQUE
Abstract: front page image
(EN)The invention provides an automated test equipment for analyzing an analog time domain output signal of an electronic device under test, wherein the automated test equipment comprises: an analog-to-digital converter configured for converting an analog time domain signal, which is during a normal mode of operation the analog time domain output signal of the electronic device under test, into a digital time domain signal by obtaining a sample of the analog time domain signal at each sampling point of a plurality of sampling points; a sampling clock configured for producing a clock signal, which is fed to the analog-to-digital converter for specifying each sampling point of the plurality of sampling points over time; a time-to-frequency converter configured for converting the digital time domain signal into a digital frequency domain signal so that the digital frequency domain signal is represented by frequency bins; a memory device configured for storing a set of empirically determined operating parameters; and a jitter components removal module for removing jitter components produced by the analog-to-digital converter in order to produce a cleaned digital frequency domain signal, wherein the jitter component removal module is configured for determining, based on the set of empirically determined operating parameters, for each frequency bin of the frequency bins an amplitude and a frequency of at least one lower spur having a lower frequency than the respective frequency bin to which it is related to and an amplitude and a frequency of at least one upper spur having a higher frequency than the respective frequency bin to which it is related to, wherein the jitter removal module is configured for subtracting the lower spur and the upper spur of each frequency bin of the frequency bins from the digital frequency domain signal so that the cleaned digital frequency domain signal is produced.
(FR)L'invention concerne un équipement de test automatisé destiné à analyser un signal de sortie du domaine temporel analogique d'un dispositif électronique sous test, l'équipement de test automatisé comprenant : un convertisseur analogique-numérique configuré pour convertir un signal du domaine temporel analogique, qui est le signal de sortie du domaine temporel analogique du dispositif électronique sous test pendant un mode de fonctionnement normal, en un signal du domaine temporel numérique par obtention d'un échantillon du signal du domaine temporel analogique à chaque instant d'échantillonnage d'une pluralité d'instants d'échantillonnage ; une horloge d'échantillonnage configurée pour produire un signal d'horloge, qui est appliqué au convertisseur analogique-numérique pour spécifier chaque instant d'échantillonnage de la pluralité d'instants d'échantillonnage au cours du temps ; un convertisseur temps-fréquence configuré pour convertir le signal du domaine temporel numérique en un signal du domaine fréquentiel numérique de manière que le signal du domaine fréquentiel numérique soit représenté par des cases de fréquence ; un dispositif de mémoire configuré pour stocker un ensemble de paramètres de fonctionnement déterminés empiriquement ; et un module de suppression de composantes de gigue pour supprimer des composantes de gigue produites par le convertisseur analogique-numérique afin de produire un signal du domaine fréquentiel numérique nettoyé, le module de suppression de composantes de gigue étant configuré pour déterminer, sur la base de l'ensemble de paramètres de fonctionnement déterminés empiriquement, pour chaque case de fréquence des cases de fréquences, une amplitude et une fréquence d'au moins un éperon inférieur ayant une plus basse fréquence que la case de fréquence respective à laquelle il est associé et une amplitude et une fréquence d'au moins un éperon supérieur ayant une plus haute fréquence que la case de fréquence respective à laquelle il est associé, le module de suppression de gigue étant configuré pour soustraire l'éperon inférieur et l'éperon supérieur de chaque case de fréquence des cases de fréquences du signal du domaine fréquentiel numérique de manière à produire le signal du domaine fréquentiel numérique nettoyé.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)