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1. (WO2016074305) GRAPHENE-COATED ATOMIC FORCE MICROSCOPE PROBE AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR AND APPLICATION THEREOF
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/074305    International Application No.:    PCT/CN2014/093684
Publication Date: 19.05.2016 International Filing Date: 12.12.2014
IPC:
G01Q 60/40 (2010.01)
Applicants: ZHANGJIAGANG INSTITUTE OF INDUSTRIAL TECHNOLOGIES, SOOCHOW UNIVERSITY [CN/CN]; NO.10 Changjing Road Zhangjiagang, Jiangsu 215600 (CN)
Inventors: HUI, Fei; (CN).
LANZA, Mario; (CN).
SHI, Yuanyuan; (CN)
Agent: NANJING JINGWEI PATENT & TRADEMARK AGENCY CO., LTD; 12th FL, -B No.179 Zhongshan Road, Gulou Nanjing, Jiangsu 210005 (CN)
Priority Data:
201410632559.6 12.11.2014 CN
Title (EN) GRAPHENE-COATED ATOMIC FORCE MICROSCOPE PROBE AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR AND APPLICATION THEREOF
(FR) SONDE DE MICROSCOPE À FORCE ATOMIQUE REVÊTUE DE GRAPHÈNE, PROCÉDÉ DE FABRICATION ET APPLICATION CORRESPONDANTS
(ZH) 一种石墨烯包覆原子力显微镜探针及其制备方法、用途
Abstract: front page image
(EN)A graphene-coated atomic force microscope probe and a manufacturing method therefor and an application thereof. The graphene-coated atomic force microscope probe includes a probe base, a cantilever and a tip. The cantilever and the tip are provided with a metal layer, and the tip is further provided with a graphene layer. The manufacturing method for the graphene-coated atomic force microscope probe comprises the following steps: (1) preparing the graphene solution: adding 5-10 mg of graphene into 1mL of water, and performing the ultrasonic dispersion for 10 min in an ultrasonic wave cleaner to obtain 5-10mg/mL of graphene solution; (2) preparing the graphene-coated atomic force microscope probe: immersing the tip of the atomic force microscope probe with the metal layer on the cantilever and the tip, into the graphene solution of step (1), and stirring mechanically for 30-60s, and then extracting the probe to dry naturally.
(FR)L'invention concerne une sonde de microscope à force atomique revêtue de graphène ainsi que le procédé de fabrication et l'application associés. La sonde de microscope à force atomique revêtue de graphène comprend une base de sonde, un porte-à-faux et une pointe. Le porte-à-faux et la pointe comprennent une couche métallique, et la pointe comprend en outre une couche de graphène. Le procédé de fabrication pour la sonde de microscope à force atomique revêtue de graphène comprend les étapes suivantes : (1) préparer la solution de graphène : ajouter 5 à 10 mg de graphène dans 1 mL d'eau, et effectuer la dispersion par ultrasons pendant 10 min dans un dispositif de nettoyage par onde ultrasonore pour obtenir 5 à 10 mg/mL de solution de graphène; (2) préparer la sonde de microscope à force atomique revêtue de graphène : immerger la pointe de la sonde de microscope à force atomique, avec la couche métallique sur le porte-à-faux et la pointe, dans la solution de graphène de l'étape (1), et agiter mécaniquement pendant 30 à 60 s, puis extraire la sonde pour un séchage naturel.
(ZH)一种石墨烯包覆原子力显微镜探针及其制备方法、用途,所述的一种石墨烯包覆原子力显微镜探针,包括探针基底,悬臂,针尖,所述的悬臂和针尖上设有金属层,针尖上还设有石墨烯层。所述的石墨烯包覆原子力显微镜探针的制备方法,包括以下步骤:(1)石墨烯溶液的制备:将5-10mg石墨烯加入1mL水中,在超声波清洗仪中超声分散10min,制备得到浓度为5-10mg/mL的石墨烯溶液;(2)制备石墨烯包覆原子力显微镜探针:将悬臂和针尖上设有金属层的原子力显微镜探针的针尖浸入步骤(1)的石墨烯溶液中,机械搅拌30-60s后取出自然晾干。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
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Publication Language: Chinese (ZH)
Filing Language: Chinese (ZH)